Das grosse Quarz-Kochbuch: Quarze, Quarzoszillatoren, Quarz- und Oberflächenwellenfilter (SAW), Meßtechnik ; mit 23 Tabellen
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| Format: | Buch |
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| Veröffentlicht: |
Feldkirchen
Franzis
1997
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Bernd^Neubig
Wolfgang Briese
Das große
Quarzkochbuch
Quarze, Quarzoszillatoren, Quarz- und Oberflächen
wellenfilter (SAW), Meßtechnik
Mit 256 Abbildungen und 23 Tabellen
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I nv - u ,:
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Franzis9
Inhalt
1 Allgemeiner historischer Überblick 15
2 Eigenschaften von Schwingquarzen 21
2 1 Einleitung 21
2 2 Die bei Schwingquarzen angewendeten Schwingungsformen 21
2 3 Das Quarzrohmaterial 22
2 4 Die kristallographischen Achsen 25
2 5 Der piezoelektrische Effekt 25
2 6 Die Quarzschnitte 28
2 7 Dehnungsschwinger 29
2 8 Biegungsschwinger 32
2 9 Stimmgabelquarze 33
291 Gabelschwinger im X-Schnitt 34
292 Gabelschwinger im XY-Schnitt 35
293 Elektrische Eigenschaften von Stimmgabelquarzen 36
2 10 Flächenscherungsschwinger 36
2 11 Die Temperaturabhängigkeit der Frequenz 38
2 12 Dickenscherungsschwinger 39
2 12 1 Miniaturisierung 42
2 12 2 Die Temperaturabhängigkeit der Serienresonanzfrequenz von AT-Schnitt-
Quarzen 46
2 12 3 Die Temperaturabhängigkeit der Lastresonanzfrequenz 48
2 12 4 Die Hysterese des Temperaturganges 48
2 12 5 Der Temperaturgang in der Schaltung 49
2 12 6 Die Temperaturabhängigkeit des Resonanzwiderstandes 50
2 12 7 Temperatursensoren 51
2 12 8 Belastungsabhängigkeit, Großleistungsverhalten 54
2 12 9 Kleinleistungsverhalten (DLD = Drive level dependence) 56
2 12 10 Nebenresonanzen 57
2 12 11 Die Alterung 60
2 12 12 Wiedereinlauf der Frequenz 64
2 12 13 Kurzzeitstabilität der Resonanzfrequenz 65
2 13 Das Ersatzschaltbild 67
2 13 1 Die statische Parallelkapazität C0 68
2 13 2 Die dynamische Kapazität Cj 69
Inhalt
2 13 3 Der Resonanzwiderstand Rj 69
2 13 4 Die Schwingungsgüte Q 71
2 14 Der Quarz in der Schaltung 72
2 14 1 Das Blindwiderstandsdiagramm 72
2 14 2 Die Ortskurve des Scheinwiderstandes 72
2 14 3 Der Schwingquarz mit Lastkapazität 74
2 15 Ziehen der Quarzfrequenz im Oszillator 78
2 15 1 Kompensation des Temperaturganges der Frequenz ( TCXO ) 78
2 15 2 Ziehverhalten und Nebenresonanzen 78
2 15 3 Ziehen der Quarzfrequenz durch Phasenregelung 79
2 16 Andere Nutzung der Scherungsschwingung von Schwingquarzen 82
2 17 Andere Wellenformen 83
2 18 Quarzgehäuse und Halterung 85
2 19 Verschlußtechniken 86
2 19 1 Löttechnik 86
2 19 2 Kalt-Preß-Lötung 87
2 19 3 Kaltschweißung (Cold-Weld = CW) 88
2 19 4 Widerstandsschweißung (Resistance-Weld = RW) 88
2 19 5 Glaseinschmelzung 89
2 19 6 Keramik-Gehäuse SMD 90
2 19 7 SMD-Gehäuse 90
2 20 Rechenbeispiele zum Kapitel 2 14 90
2 21 Verwendete Formelzeichen 93
2 22 Begriffe 94
3 Prüfungen an Schwingquarzen 107
3 1 Einleitung 107
3 2 Die Spezifikation 107
321 Die Parameter einer Spezifikation 108
322 Die Kennzeichnung 108
323 Betriebsbedingungen 109
324 Quarzbezugsbelastung (Pg) 109
325 Bezugstemperatur 110
326 Arbeitstemperaturbereich 110
327 Temperaturbereich der Betriebs- und Lagerfähigkeit 110
328 Frequenztoleranz 110
329 Temperaturbedingte Frequenzänderung 111
3 2 10 Resonanzwiderstand 113
3 2 11 Parallelkapazität Cq 113
3 2 12 dynamische Kapazität Ci 113
3 2 13 Alterung 114
3 2 14 Belastungsabhängigkeit 114
3 2 15 Maße und Beschriftung 114
Inhalt
3 2 16 Nebenresonanzen 115
3 2 17 Isolationswiderstand 116
3 2 18 Dichtheit des Gehäuses 116
3 2 19 Lötbarkeit der Anschlüsse 116
3 2 20 Schüttelfestigkeit 116
3 2 21 Stoßfestigkeit 117
3 2 22 Freifallen 117
3 2 23 Zug- und Biegefestigkeit der Anschlüsse 117
3 2 24 Trockene Wärme 117
3 2 25 Feuchte Wärme, konstant 118
3 2 26 Klimafolgeprüfung 118
3 3 Prüfplan 118
331 Freigabeprüfung 119
332 Konformitätsprüfung 122
333 Wareneingangsprüfung 123
334 100 %-Prüfung 123
3 4 Durchführung der Prüfungen 123
341 Visuelle Inspektion 124
342 Belastungsabhängigkeit 124
343 Resonanzfrequenz und Resonanzwiderstand 129
344 Ersatzdaten 132
345 Statische Parallelkapazität 135
346 Temperaturgang von Resonanzfrequenz und-widerstand 135
347 Prüfung der Alterung 143
348 Messung von Nebenresonanzen 144
349 Isolations widerstand 147
3 4 10 Dichtheit des Gehäuses 147
3 4 11 Lötbarkeit der Anschlußdrähte 149
3 4 12 Prüfung auf Schüttelfestigkeit (Schwingen) 152
3 4 13 Stoßfestigkeit 155
3 4 14 Freifallen 155
3 4 15 Klimabeständigkeit 156
3 5 Auswertung der Prüfungen 160
351 Attributprüfungen , 160
352 Statistische Auswertung 161
3 6 Vergleichsliste zu Europanormen 166
3 7 Anmerkung zu den Meßverfahren 167
4 Meßtechnik von Schwingquarzen 169
4 1 Passivmessung bis 125 MHz nach (DIN) IEC 444-1 und 444-2 170
411 Messung von Resonanzfrequenz fr und Resonanzwiderstand Rr 174
412 Messung der Ersatzdaten Cp Lp Q 175
413 Messung der statischen Kapazität Cq 176
Inhalt
4 2 Messung nach der Ortskreis-Methode (DIN) IEC 444-5 bis 500 MHz und
darüber 178
421 Kalibrierung und Impedanzmessung 180
422 Messung der Quarzparameter 181
4 3 Messung der Lastresonanz 184
431 Messung mit physikalischer Lastkapazität (Vorstecker) 185
432 Messung ohne physikalische Lastkapazität 192
4 4 Messung von Nebenresonanzen 194
441 Messung im 7t-Meßkopf 195
442 Nebenwellen-Meßbrücke nach IEC 283 (DIN 45105 Teil 4) 200
443 Hybridmeßbrücke 202
4 5 Messung der Belastungsabhängigkeit (DLD) 203
451 Passivmessung 204
452 Aktivmessung mit Testoszillator 206
4 6 Messung des Temperaturgangs von Frequenz und Widerstand 208
461 TK-Meßtechnik 208
462 Auswertung von TK-Daten 209
4 7 Messung der zeitlichen Stabilität 212
471 Kurzzeitstabilität (Phasenrauschen) 212
472 Langzeitstabilität (Alterung) 214
4 8 Literatur 217
5 Quarzoszillatoren und ihre Anwendung 221
5 1 Einleitung 221
5 2 Oszillatoren 221
5 3 Einfache Quarzoszillatoren (PXO) 221
531 Temperaturabhängigkeit der Oszillatorfrequenz 225
532 Dynamische Temperaturabhängigkeit 225
533 Die Abhängigkeit der Oszillatorfrequenz von der Betriebsspannung 226
534 Einschwingzeit 227
535 Die Belastung des Oszillatorausganges 227
536 Die Langzeitstabilität 227
537 Festlegung von Oszillatorparametern 229
538 Typische Oszillatorkennwerte 229
5 4 Spannungsgesteuerte Quarzoszillatoren (VCXO) 230
541 Typische Oszillatorkennwerte für VCXO 232
542 Typische Daten von VCXO 234
5 5 Temperaturkompensierte Quarzoszillatoren (TCXO) 234
551 Analoge TCXO 234
552 Digitale TCXO 236
5 6 Temperaturstabilisierte Quarzoszillatoren (OCXO) 238
561 Aufbau einstufiger Thermostate 239
Inhalt
562 Zweistufige Thermostate 242
563 Bestellangaben für den Thermostaten des OCXO 242
6 Oszillatorschaltungen mit Schwingquarzen 245
6 1 Elektrische Kenngrößen von Schwingquarzen 245
6 2 Klassifizierung von Quarzoszillatorschaltungen 247
621 Oszillatormodelle 247
622 Einstufige Schaltungen 249
623 Mehrstufige Schaltungen 252
624 Brückenschaltungen 254
625 Zur Frage: „Parallelresonanz-“ oder „Serienresonanz“-Oszillator? 255
6 3 Gebräuchliche Quarzoszillatorschaltungen 257
631 Colpitts-Oszillator und Clapp-Guriett-Oszillator 258
632 Pierce-Oszillator 264
633 Clapp-Oszillator 268
634 Oszillatoren mit modularen MMIC-Bausteinen in
50 Q-Technik 271
635 Frequenzaufbereitung für VHF/UHF und höher 272
6 4 Frequenzstabilität von Quarzoszillatoren 274
641 Langzeitstabilität (Alterung) 274
642 Kurzzeitstabilität/Phasenrauschen 275
643 Frequenzstabilität im Temperaturbereich 275
6 5 Ziehen und Modulation von Quarzoszillatoren 277
651 Ziehfähigkeit 277
652 Modulation von Quarzoszillatoren 285
6 6 Messung der Quarzbelastung 287
661 Colpitts-Schaltung (Abb 6 11) 287
662 Die Pierce-Schaltung (Abb 6 16a,b) 288
663 Basisschaltung (Abb 6 18) 289
6 7 Anschwingverhalten von Quarzoszillatoren 289
6 8 Simulation von Quarzoszillatorschaltungen 290
681 Transientenanalyse 290
682 Offen-Schleife-Analyse 290
683 Eingangsimpedanz-Analyse 291
7 Kurzzeitstabilität 297
7 1 Kurzzeitstabilität im Zeitbereich 299
7 2 Natur des Rauschens: 301
7 3 Kurzzeitstabilität im Frequenzbereich 302
7 4 Die Natur des Phasenrauschens 304
7 5 Konvertierung vom Frequenzbereich in den Zeitbereich 306
7 6 Analyse des Phasenrauschens 307
7 7 Konstruktionshinweise 310
7 8 Verwendete Begriffe 311
7 9 Literatur 312
8 Meßtechnik und Prüfung von Quarzoszillatoren 315
8 1 Adaption 315
811 Allgemeine Gesichtspunkte 315
812 Beschaltung des HF-Ausgangs und Messung des Ausgangssignals 317
8 2 Frequenzmessungen 321
821 Erhöhung der Frequenzauflösung 321
822 Abgleichtoleranz, Anliefertoleranz 322
823 Ziehbereich (VCXOs) 323
824 Frequenz-Belastungskoeffizient 324
825 Frequenz-Spannungskoeffizient 324
8 3 Messung des Temperaturverhaltens : 325
831 PXO/VCXO 326
832 TCXO 326
833 OCXO 327
8 4 Messung des Anschwingens 327
841 Prüfung des Anschwingverhaltens 328
842 Messung der Anschwingzeit 329
8 5 Messung der Kurzzeitstabilität und des Phasenrauschens 331
8 6 Prüfung der Langzeitstabilität (Alterung) 331
861 30-Tage-Alterung 331
862 Erweiterte Alterung 332
8 7 Spezielle OCXO-Messungen 333
871 Einlauf-und Wiederkehrverhalten (Retrace) 333
872 Thermisches Überschwingen 334
8 8 Sonstige Prüfungen 335
881 Mechanische und klimatische Umweltprüfungen (Übersicht) 336
882 Screening-Verfahren 337
8 9 Normenübersicht zu Quarzoszillatoren 339
9 Quarzfilter und Oberflächenwellenfilter (SAW) 341
9 1 Quarzfilter 341
911 Einführung 341
912 Technologien von Quarzfiltem 342
913 Unterscheidung der Quarzfilter nach ihrem Amplituden- und Phasengang 350
914 Realisierbarkeitsgrenzen von Quarzfiltern 353
9 2 SAW-Filter 356
921 Wirkungsweise von SAW-Bauelementen 356
922 Unerwünschte Übertragungseffekte bei SAW-Filtem 361
923 SAW-Filtertypen und Materialien 361
Inhalt
Inhalt
10 Prüfung von Quarzfiltern und SAW-Filtern * 369
10 1 Messung des Übertragungsverhaltens 369
10 2 Kenngrößen von Filtern 373
10 3 Messung des Intermodulationsverhaltens 375
Sachverzeichnis 377
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