Untersuchung der Degradation von Aluminium-IC-Metallisierungen mit Elektromigrations-Schnelltest und niederfrequentem Rauschen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hirsch, Alexander (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1996
Schlagworte:
Beschreibung:Regensburg, Univ., Diplomarb., 1996
Beschreibung:59 S. Ill., graph. Darst.

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