Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Shaker
1996
|
| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Berichte aus der Elektrotechnik
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996 |
| Beschreibung: | VIII, 117 S. graph. Darst. |
| ISBN: | 3826516028 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV010967217 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 19970410 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 960916s1996 gw d||| m||| 00||| ger d | ||
| 016 | 7 | |a 948563885 |2 DE-101 | |
| 020 | |a 3826516028 |c Pb. : DM 89.00, sfr 89.00, S 619.00 |9 3-8265-1602-8 | ||
| 035 | |a (OCoLC)75795849 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV010967217 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 044 | |a gw |c DE | ||
| 049 | |a DE-91 |a DE-12 | ||
| 084 | |a ELT 357d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Eisenmann, Wolfgang |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene |c Wolfgang Eisenmann |
| 250 | |a Als Ms. gedr. | ||
| 264 | 1 | |a Aachen |b Shaker |c 1996 | |
| 300 | |a VIII, 117 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a Berichte aus der Elektrotechnik | |
| 500 | |a Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Simulation |0 (DE-588)4055072-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Verknüpfungsglied |0 (DE-588)4135908-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Verlustleistung |0 (DE-588)4187881-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a VLSI |0 (DE-588)4117388-0 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Verknüpfungsglied |0 (DE-588)4135908-2 |D s |
| 689 | 0 | 3 | |a Verlustleistung |0 (DE-588)4187881-4 |D s |
| 689 | 0 | 4 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Verlustleistung |0 (DE-588)4187881-4 |D s |
| 689 | 1 | 2 | |a Simulation |0 (DE-588)4055072-2 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a CMOS-Schaltung |0 (DE-588)4148111-2 |D s |
| 689 | 2 | 1 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |D s |
| 689 | 2 | 2 | |a Simulation |0 (DE-588)4055072-2 |D s |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 856 | 4 | 2 | |m DNB Datenaustausch |q application/pdf |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007337780&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |3 Inhaltsverzeichnis |
| 943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007337780 | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1807323655956332544 |
|---|---|
| adam_text |
INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
1
1.1
MOTIVATION
.
4
1.1.1
VERLUSTLEISTUNG
.
4
1.1.2
ZUVERLAESSIGKEIT
.
5
1.2
STAND
DER
TECHNIK
.
6
1.2.1
VERLUSTLEISTUNGSABSCHAETZUNG
.
7
1.2.1.1
STATISCHE
VERFAHREN
.
7
1.2.1.2
STOCHASTISCHE
VERFAHREN
.
9
1.2.2
VERLUSTLEISTUNGSSIMULATION
.
11
1.2.2.1
KONTROLLIERTE
SIMULATION
MIT
ZUFALLSVEKTOREN
.
11
1.2.2.2
SIMULATION
MIT
APPLIKATIONSVEKTOREN
.
12
1.2.3
ZUVERLAESSIGKEITSSIMULATION
.
15
1.3
ZIELE
DER
ARBEIT
.
19
2
VERLUSTLEISTUNG
UND
ZUVERLAESSIGKEIT
21
2.1
MODELLIERUNG
DER
VERZOEGERUNGSZEITEN
.
21
2.2
VERLUSTLEISTUNGSKOMPONENTEN
BEI
CMOS
.
22
2.2.1
STATISCHE
VERLUSTE
.
22
2.2.2
DYNAMISCHE
VERLUSTE
.
23
2.3
ZELLENBASIERTE
VERLUSTLEISTUNGSGLEICHUNG
.
27
II
INHALTSVERZEICHNIS
2.4
ZUVERLAESSIGKEITSASPEKTE
BEI
CMOS
.
29
2.4.1
ELEKTROMIGRATION
.
30
2.4.2
ALTERUNG
DURCH
HEISSE
ELEKTRONEN
.
32
2.4.3
ELEKTROMAGNETISCHE
VERTRAEGLICHKEIT
.
33
2.4.3.1
LEITUNGSGEBUNDENE
KOPPELUNG
.
34
2.4.3.2
ELEKTROMAGNETISCHE
STRAHLUNG
.
38
3
MODELLIERUNG
41
3.1
DAS
ZELLENMODELL
.
41
3.1.1
BLACK
BOX
ANSATZ
.
42
3.1.2
PFADORIENTIERTE
LEISTUNGSBERECHNUNG
.
44
3.1.3
FEHLERABSCHAETZUNG
.
46
3.2
DIE
WAVEFORM-MODELLE
.
49
3.2.1
KURVENVERLAUF
DER
SIGNALSPANNUNG
.
50
3.2.2
ABLEITUNG
DER
STROM-NOISE-POWER
WAVEFORM-MODELLE
.
54
3.2.3
HUELLKURVE
FUER
ZELLENINTERNE
STROEME
.
56
3.2.4
VERIFIKATION
.
57
3.3
ERWEITERUNGEN
.
64
3.3.1
NEGATIVE
RUECKKOPPLUNG
.
64
3.3.2
RC-LASTEN
.
65
4
EREIGNISGETRIEBENE
SIMULATION
68
4.1
EXTRAKTION
DER
PARAMETER
.
70
4.2
LOGIKSIMULATION
.
71
4.3
POSTPROZESSOREN
.
73
INHALTSVERZEICHNIS
III
5
BEISPIELE
UND
ERGEBNISSE
76
5.1
VERLUSTLEISTUNG,
VERSORGUNGSSTROEME
UND
NOISE
.
77
5.1.1
BENCHMARK
SCHALTUNGEN
.
77
5.1.2
INDUSTRIELLE
SCHALTUNGEN
.
83
5.1.3
RECHENZEITVERGLEICH
.
86
5.1.4
VERLUSTLEISTUNGSVERTEILUNG
.
87
5.1.5
VEKTORABHAENGIGKEIT
.
89
5.2
SPEKTRALANALYSE
MIT
FOURIER
.
91
5.3
ITERATIVE
ZUVERLAESSIGKEITSSIMULATION
.
92
6
ZUSAMMENFASSUNG
96
LITERATURVERZEICHNIS
101
A
FORMELN
FUER
DAS
T3LEXP-MODELL
111
B
BERECHNUNG
DER
EFFEKTIVEN
KAPAZITAET
113
C
TABELLEN
116 |
| any_adam_object | 1 |
| author | Eisenmann, Wolfgang |
| author_facet | Eisenmann, Wolfgang |
| author_role | aut |
| author_sort | Eisenmann, Wolfgang |
| author_variant | w e we |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV010967217 |
| classification_tum | ELT 357d |
| ctrlnum | (OCoLC)75795849 (DE-599)BVBBV010967217 |
| discipline | Elektrotechnik |
| edition | Als Ms. gedr. |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV010967217</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19970410</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">960916s1996 gw d||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">948563885</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3826516028</subfield><subfield code="c">Pb. : DM 89.00, sfr 89.00, S 619.00</subfield><subfield code="9">3-8265-1602-8</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75795849</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV010967217</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 357d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Eisenmann, Wolfgang</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene</subfield><subfield code="c">Wolfgang Eisenmann</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Aachen</subfield><subfield code="b">Shaker</subfield><subfield code="c">1996</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">VIII, 117 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Berichte aus der Elektrotechnik</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Simulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4055072-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Verknüpfungsglied</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135908-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Verlustleistung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4187881-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">VLSI</subfield><subfield code="0">(DE-588)4117388-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Verknüpfungsglied</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135908-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Verlustleistung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4187881-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Verlustleistung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4187881-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Simulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4055072-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="2"><subfield code="a">Simulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4055072-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007337780&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007337780</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV010967217 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-08-14T01:15:50Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3826516028 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007337780 |
| oclc_num | 75795849 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-12 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-12 |
| physical | VIII, 117 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1996 |
| publishDateSearch | 1996 |
| publishDateSort | 1996 |
| publisher | Shaker |
| record_format | marc |
| series2 | Berichte aus der Elektrotechnik |
| spelling | Eisenmann, Wolfgang Verfasser aut Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene Wolfgang Eisenmann Als Ms. gedr. Aachen Shaker 1996 VIII, 117 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Berichte aus der Elektrotechnik Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996 Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd rswk-swf Simulation (DE-588)4055072-2 gnd rswk-swf Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 gnd rswk-swf Verlustleistung (DE-588)4187881-4 gnd rswk-swf VLSI (DE-588)4117388-0 gnd rswk-swf CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 s VLSI (DE-588)4117388-0 s Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 s Verlustleistung (DE-588)4187881-4 s Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 s DE-604 Simulation (DE-588)4055072-2 s DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007337780&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
| spellingShingle | Eisenmann, Wolfgang Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Simulation (DE-588)4055072-2 gnd Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 gnd Verlustleistung (DE-588)4187881-4 gnd VLSI (DE-588)4117388-0 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4059245-5 (DE-588)4055072-2 (DE-588)4135908-2 (DE-588)4187881-4 (DE-588)4117388-0 (DE-588)4148111-2 (DE-588)4113937-9 |
| title | Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene |
| title_auth | Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene |
| title_exact_search | Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene |
| title_full | Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene Wolfgang Eisenmann |
| title_fullStr | Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene Wolfgang Eisenmann |
| title_full_unstemmed | Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene Wolfgang Eisenmann |
| title_short | Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene |
| title_sort | schnelle simulation der verlustleistung und der zuverlassigkeit von hochintegrierten cmos schaltkreisen auf gatterebene |
| topic | Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Simulation (DE-588)4055072-2 gnd Verknüpfungsglied (DE-588)4135908-2 gnd Verlustleistung (DE-588)4187881-4 gnd VLSI (DE-588)4117388-0 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd |
| topic_facet | Zuverlässigkeit Simulation Verknüpfungsglied Verlustleistung VLSI CMOS-Schaltung Hochschulschrift |
| url | http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007337780&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
| work_keys_str_mv | AT eisenmannwolfgang schnellesimulationderverlustleistungundderzuverlassigkeitvonhochintegriertencmosschaltkreisenaufgatterebene |