Engels, B. (1996). Ab initio Berechnung der (110) Oberfläche von III-V Halbleitern: Simulation von Rastertunnelmikroskopie-Aufnahmen. Forschungszentrum, Zentralbibliothek.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Engels, Benedikt. Ab Initio Berechnung Der (110) Oberfläche Von III-V Halbleitern: Simulation Von Rastertunnelmikroskopie-Aufnahmen. Jülich: Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Engels, Benedikt. Ab Initio Berechnung Der (110) Oberfläche Von III-V Halbleitern: Simulation Von Rastertunnelmikroskopie-Aufnahmen. Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996.
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