Ab initio Berechnung der (110) Oberfläche von III-V Halbleitern: Simulation von Rastertunnelmikroskopie-Aufnahmen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Engels, Benedikt (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Jülich Forschungszentrum, Zentralbibliothek 1996
Schriftenreihe:Forschungszentrum <Jülich>: Berichte des Forschungszentrums Jülich 3215
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996
Beschreibung:VIII, 179 S. graph. Darst.

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