In-situ-Charakterisierung und Ladungsträgerkinetik amorpher Halbleiter auf Silicium-Basis:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Swiatkowski, Carsten (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1996
Schlagworte:
Beschreibung:145 S. graph. Darst.

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