Rulle, H. (1996). Hochauflösende Abbildungen strukturierter organischer Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Rulle, Harald. Hochauflösende Abbildungen Strukturierter Organischer Oberflächen Mit Der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS). 1996.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Rulle, Harald. Hochauflösende Abbildungen Strukturierter Organischer Oberflächen Mit Der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS). 1996.
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