Hochauflösende Abbildungen strukturierter organischer Oberflächen mit der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS):
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rulle, Harald (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1996
Schlagworte:
Beschreibung:Münster, Univ., Diss., 1996
Beschreibung:87 S. Ill., graph. Darst.

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