MBE-Herstellung und Charakterisierung von BiSrCaCuO-Hochtemperatursupraleiter-Schichten und -Schichtsystemen:
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| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Shaker
1996
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Berichte aus der Physik
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| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996 |
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INHALTVERZEICHNIS
1.
EINLEITUNG
1
1.1.
SUPRALEITUNG
1
1.2.
HOCHTEMPERATURSUPRALEITUNG
3
1.3.
DAS
WISMUT-SYSTEM
5
1.4.
ANWENDUNGEN
VON
SUPRALEITENDEN
SCHICHTEN
7
1.5.
DEPOSITIONSMETHODEN
9
1.6.
MOLEKULARSTRAHLEPITAXIE
10
1.7.
V
ERGLEICH
DER
DEPOSITIONSMETHODEN
13
2.
AUFBAU
DES
UHV-SYSTEMS
15
2.1.
MOLEKULARSTRAHLEPITAXIE-ANLAGE
15
2.1.1.
VERDAMPFERTEIL
18
2.1.2.
DEPOSITIONSTEIL
19
2.2.
PROBENTRANSFER
25
2.3.
REAKTIVE
SAUERSTOFFQUELLEN
26
2.4.
EINBINDUNG
IN
DAS
UHV-ANALYSESYSTEM
28
3.
ANALYSEMETHODEN
31
3.1.
WIDERSTAND
31
3.2.
AC-SUSZEPTIBILITAET
31
3.3.
SQUID-MESSUNGEN
33
3.4.
ENERGIEDISPERSIVE
ROENTGENANALYSE
(EDX)
33
3.5.
ROENTGENDIFFFAKTROMETRIE
(XRD)
35
3.6.
TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOPIE
(TEM)
37
3.7.
RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE
(REM)
38
3.8.
RASTERTUNNELMIKROSKOPIE
(RTM)
39
3.9.
REFLECTION
HIGH
ENERGY
ELECTRON
DIFFRACTION
(RHEED)
41
4.
SIMULTAN
AUFGEWACHSENE
SCHICHTEN
45
4.1.
ELEKTRISCHE
EIGENSCHAFTEN
45
4.2.
STRUKTURELLE
EIGENSCHAFTEN
51
4.3.
OBERFLAECHENEIGENSCHAFTEN
56
5.
SEQUENTIELL
AUFGEWACHSENE
SCHICHTEN
59
5.1.
ELEKTRISCHE
EIGENSCHAFTEN
60
5.2.
CHARAKTERISIERUNG
DES
SCHICHTWACHSTUMS
69
5.3.
STRUKTURELLE
EIGENSCHAFTEN
72
5.4.
STOECHIOMETRIE-BESTIMMUNG
80
5.5.
OBERFLAECHENEIGENSCHAFTEN
82
6.
SCHICHTSYSTEME
89
6.1.
PRAEPARATION
90
6.2.
CHARAKTERISIERUNG
92
6.3.
BESTIMMUNG
DER
ENERGIELUECKE
101
7.
ZUSAMMENFASSUNG
107
8.
AUSBLICK
109
9.
LITERATURVERZEICHNIS
111 |
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