Beenker, F. P. M., Bennetts, R. G., & Thijssen, A. P. (1995). Testability concepts for digital ICs: The macro test approach. Kluwer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Beenker, Frans P. M., R. G. Bennetts, und A. P. Thijssen. Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach. Dordrecht [u.a.]: Kluwer, 1995.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Beenker, Frans P. M., et al. Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach. Kluwer, 1995.
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