Scheer, S. (1996). Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht (55. Aufl.). Scheer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Warenzeichen-Recht. 55. Aufl. Hürth ; Köln: Scheer, 1996.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Warenzeichen-Recht. 55. Aufl. Scheer, 1996.
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