Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Scheer, Stefan (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Hürth ; Köln Scheer 1996
Ausgabe:55. Aufl.
Schriftenreihe:Das Buch der Praxis
Schlagworte:
Beschreibung:56. Aufl. u.d.T.: Scheer, Stefan: Internationales Patent-, Muster- und Marken-Recht
Beschreibung:LII, 1038 S.

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