Thewes, R. (1995). Degradation analoger CMOS-Schaltungen durch heisse Ladungsträger.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Thewes, Roland. Degradation Analoger CMOS-Schaltungen Durch Heisse Ladungsträger. 1995.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Thewes, Roland. Degradation Analoger CMOS-Schaltungen Durch Heisse Ladungsträger. 1995.
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