Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors: ICDS-18 ; Sendai, Japan, July 23 - 28, 1995 3
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Defects in Semiconductors Sendai (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Zurich-Uetikon [u.a.] Trans Tech Publ. 1995
Schriftenreihe:Materials science forum 196/201,3
Beschreibung:XXXVII S., S. 1110 - 1562 Ill., graph. Darst.
ISBN:0878497145

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