Materials reliability in microelectronics: 2 Symposium held April 27 - May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A.
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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Pittsburg, Pa. Materials Research Soc. 1992
Schriftenreihe:Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings 265
Schlagworte:
Beschreibung:IX, 328 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:1558991603

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