Fehler suchen, finden, beseitigen: in automatisierten Systemen und elektronischen Schaltungen
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin u.a.
VDE-Verl.
1996
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | 191 S. graph. Darst. |
| ISBN: | 3800721139 |
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INHALT
1
GRUNDREGELN
DER
METHODISCHEN
FEHLERSUCHE
.
9
1.1
SYSTEMATIK,
LOGIK
UND
ERFAHRUNG
SIND
GRUNDPFEILER
.
9
1.2
AUFTRETEN
UND
VERHALTEN
BEIM
KUNDEN
.
10
2
ANEIGNUNG
VON
ANLAGEN
UND
SYSTEMKENNTNISSEN
.
13
2.1
SYSTEMERKUNDUNG
UEBER
BEKANNTES
UND
UNBEKANNTES
.
13
2.2
INFORMATIONEN
GEZIELT
SAMMELN
.
14
2.3
STRUKTURMERKMALE
FESTLEGEN
.
15
3
SYSTEMATISIERTE
FEHLERSUCHE
AN
AUTOMATISIERTEN
ANLAGEN
.
23
3.1
VORAUSSETZUNGEN
UND
ABLAUF
EINER
ERFOLGREICHEN
FEHLERSUCHE
.
23
3.2
IST-ZUSTANDSERFASSUNG
.
24
3.3
FEHLERBEREICH
EINGRENZEN
.
27
3.4
INSTANDSETZUNGSMASSNAHMEN
UND
WIEDERINBETRIEBNAHME
.
31
4
POTENTIALBESTIMMUNG
IN
ELEKTRONISCHEN
BAUGRUPPEN
UND
SCHALTUNGEN
.
35
4.1
POTENTIALBESTIMMUNG
DURCH
SPANNUNGSMESSUNG
.
35
4.2
FEHLER
IM
STROMKREIS
.
36
4.3
BEZUGSPOTENTIAL
BESTIMMT
POLARITAET
UND
SPANNUNGSWERT
.
38
4.4
SPANNUNGSPOTENTIALE
AN
LINEAREN
SCHALTUNGEN
.
40
4.5
SPANNUNGSPOTENTIALE
AN
DIGITALEN
SCHALTUNGEN
.
41
4.6
DURCHFUEHRUNG
VON
POTENTIALBESTIMMUNGEN
AN
ZWEI
BEISPIELEN
.
43
4.7
UEBUNG
.
47
5
FEHLERSUCHE
MIT
SYSTEM
IN
ELEKTRONISCHEN
SCHALTUNGEN*
.
49
5.1
BEISPIEL
FUER
ANALOGSCHALTUNG
.
50
5.2
BEISPIEL
FUER
DIGITALSCHALTUNG
.
56
5.3
BEISPIEL
FUER
COMPUTER-SCHALTUNG
.
60
5.4
BEISPIEL
FUER
SPS-STEUERSCHALTUNG
.
63
5.5
UEBUNG
.
67
6
SERVICE-ANLEITUNG
FUER
INTEGRIERTE
SCHALTUNGEN
.
69
6.1
DAS
WESENTLICHSTE
UEBER
IC
.
69
6.2
KURZSCHLUSS
AUF
DER
LEITERPLATTE
.
71
6.3
SCHUTZMASSNAHMEN
FUER
MOS-BAUELEMENTE
.
71
7
FEHLERSUCHE
AN
NETZEN
UND
STROMVERSORGUNGEN
.
73
7.1
NETZSTOERUNGEN
UND
IHRE
AUSWIRKUNGEN
.
73
7.2
FEHLERSUCHE
AN
GLEICHRICHTERSCHALTUNGEN
.
77
7.2.1
VOLLWELLEN-UND
BRUECKENGLEICHRICHTER
.
77
7.2.2
FEHLERSUCHE
AN
NETZGERAETEN
.
81
7.3
UEBUNGEN
.
84
8
FEHLERSUCHE
AN
VERSTAERKER
UND
REGELUNGSSCHALTUNGEN
.
89
8.1
KOPPLUNGSARTEN
IN
IHRER
FUNKTION
ERKENNEN
.
89
8.1.1
VERBINDUNGSKOPPLUNGEN
.
91
8.1.2
GEGENKOPPLUNGEN
.
91
8.1.3
MITKOPPLUNGEN
.
93
8.2
MESSVERSTAERKER
HOHER
PRAEZISION
.
93
8.3
SPANNUNGSSTABILISIERUNG
.
100
8.4
DREHZAHL
UND
LAGEKREISREGLER
.
102
8.5
PRUEFUNG
INTEGRIERTER
VERSTAERKER
.
106
8.6
FEHLERSUCHE
AN
VORVERSTAERKERN
.
109
8.7
ENDVERSTAERKER
.
HO
8.8
UEBUNG
.
HL
9
FEHLERSUCHE
AN
SCHWINGSCHALTUNGEN
.
115
9.1
LC-SINUSOSZILLATOR
.
115
9.2
AEC-BRUECKENOSZILLATOR
.
118
9.3
FUNKTIONSGENERATOR
.
119
9.4
UEBUNG
.
122
10
FEHLERSUCHE
AN
IMPULS-UND
DIGITALSCHALTUNGEN
.
125
10.1
GRUNDLAGEN
UND
MERKMALE
.
125
10.2
KIPP-UND
ZAEHLSTUFEN
.
127
10.3
FEHLER
DIGITALER
IC
.
129
10.4
UEBUNGEN
.
137
11
FEHLERSUCHE
AN
COMPUTERSCHALTUNGEN
.
143
11.1
FEHLERDIAGNOSE
AN
TRI-STATE-SCHALTUNGEN
.
143
11.2
UEBERPRUEFUNG
STATISCHER
FUNKTIONSZUSTAENDE
.
144
11.3
FEHLERSUCHE
AN
E/A-IC
.
146
11.3.1
DIE
WICHTIGSTEN
MERKMALE
VON
E/A-BAUSTEINEN
.
146
11.3.2
ANSTEUERUNG
EINER
LED-ANZEIGE
.
146
11.3.3
ANALOGE
BILDSTEUERUNG
.
148
11.4
BAS-MONITORSCHNITTSTELLE
.
150
11.5
SERIELLE
TTY/V24-SCHNITTSTELLE
.
152
11.6
UEBUNG
.
154
12
SCHNELLER
KOMPONENTENTEST
.
157
12.1
UEBUNGEN
.
159
6
13
KLEINES
MESSPRAKTIKUM
.
161
13.1
ARBEITEN
MIT
MULTIMETEM
.
161
13.1.1
WAS
KANN
MAN
MIT
EINER
WIDERSTANDSMESSUNG
ALLES
FESTSTELLEN?
.
161
13.1.2
FUNKTIONSPRUEFUNGEN
DURCH
SPANNUNGSMESSUNGEN
.
165
13.2
MESSUNGEN
MIT
DEM
OSZILLOSKOP
.
169
13.2.1
BEZUGSPOTENTIAL
.
170
13.2.2
INNENWIDERSTAND
.
172
13.2.3
MESSLEITUNGEN,
EINFLUSS
VON
LAENGE
UND
QUALITAET
.
174
13.2.4
IMPULSMESSUNGEN
MIT
DEM
OSZILLOSKOP
.
176
13.3
MESSUNGEN
MIT
DEM
LOGIK-ANALYSATOR
.
179
13.3.1
LOGIK-ZEITANALYSE
.
180
13.3.2
LOGIK-ZUSTANDSANALYSATOR
.
182
14
LOESUNGEN
ZU
DEN
UEBUNGEN
.
185
STICHWORTVERZEICHNIS
.
189 |
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