Simulation integrierter MOS-Schaltungen: Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Mainz
1996
|
| Ausgabe: | 1. Aufl. |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | II, 115 S. graph. Darst. |
| ISBN: | 3896530151 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV010533045 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20110907 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 951211s1996 gw d||| m||| 00||| ger d | ||
| 016 | 7 | |a 94625107X |2 DE-101 | |
| 020 | |a 3896530151 |c brosch. : DM 34.00, sfr 44.00, S 305.00 |9 3-89653-015-1 | ||
| 035 | |a (OCoLC)722429784 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV010533045 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 044 | |a gw |c DE | ||
| 049 | |a DE-91 |a DE-92 |a DE-11 |a DE-634 | ||
| 084 | |a ZN 4960 |0 (DE-625)157426: |2 rvk | ||
| 084 | |a ELT 303d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Kwasniok, Thomas |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Simulation integrierter MOS-Schaltungen |b Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer |c Thomas Kwasniok |
| 250 | |a 1. Aufl. | ||
| 264 | 1 | |a Aachen |b Mainz |c 1996 | |
| 300 | |a II, 115 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 502 | |a Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Simulation |0 (DE-588)4055072-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Computersimulation |0 (DE-588)4148259-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a MOS-FET |0 (DE-588)4207266-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Miniaturisierung |0 (DE-588)4406753-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Degradation |g Technik |0 (DE-588)4206992-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Computersimulation |0 (DE-588)4148259-1 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Simulation |0 (DE-588)4055072-2 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |D s |
| 689 | 2 | 1 | |a MOS-FET |0 (DE-588)4207266-9 |D s |
| 689 | 2 | 2 | |a Miniaturisierung |0 (DE-588)4406753-7 |D s |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a MOS-Schaltung |0 (DE-588)4135571-4 |D s |
| 689 | 3 | 1 | |a MOS-FET |0 (DE-588)4207266-9 |D s |
| 689 | 3 | 2 | |a Degradation |g Technik |0 (DE-588)4206992-0 |D s |
| 689 | 3 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007021471 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804125002023305216 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Kwasniok, Thomas |
| author_facet | Kwasniok, Thomas |
| author_role | aut |
| author_sort | Kwasniok, Thomas |
| author_variant | t k tk |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV010533045 |
| classification_rvk | ZN 4960 |
| classification_tum | ELT 303d |
| ctrlnum | (OCoLC)722429784 (DE-599)BVBBV010533045 |
| discipline | Elektrotechnik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
| edition | 1. Aufl. |
| format | Thesis Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02092nam a2200577 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV010533045</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20110907 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">951211s1996 gw d||| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">94625107X</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3896530151</subfield><subfield code="c">brosch. : DM 34.00, sfr 44.00, S 305.00</subfield><subfield code="9">3-89653-015-1</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)722429784</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV010533045</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4960</subfield><subfield code="0">(DE-625)157426:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 303d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Kwasniok, Thomas</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Simulation integrierter MOS-Schaltungen</subfield><subfield code="b">Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer</subfield><subfield code="c">Thomas Kwasniok</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1. Aufl.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Aachen</subfield><subfield code="b">Mainz</subfield><subfield code="c">1996</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">II, 115 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Simulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4055072-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Computersimulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148259-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Miniaturisierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4406753-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Degradation</subfield><subfield code="g">Technik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4206992-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Computersimulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148259-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Simulation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4055072-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="2"><subfield code="a">Miniaturisierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4406753-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">MOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135571-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="1"><subfield code="a">MOS-FET</subfield><subfield code="0">(DE-588)4207266-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="2"><subfield code="a">Degradation</subfield><subfield code="g">Technik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4206992-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007021471</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV010533045 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T17:54:37Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3896530151 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007021471 |
| oclc_num | 722429784 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-92 DE-11 DE-634 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-92 DE-11 DE-634 |
| physical | II, 115 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1996 |
| publishDateSearch | 1996 |
| publishDateSort | 1996 |
| publisher | Mainz |
| record_format | marc |
| spelling | Kwasniok, Thomas Verfasser aut Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer Thomas Kwasniok 1. Aufl. Aachen Mainz 1996 II, 115 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995 Simulation (DE-588)4055072-2 gnd rswk-swf Computersimulation (DE-588)4148259-1 gnd rswk-swf MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd rswk-swf MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 gnd rswk-swf Miniaturisierung (DE-588)4406753-7 gnd rswk-swf Degradation Technik (DE-588)4206992-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 s Computersimulation (DE-588)4148259-1 s DE-604 Simulation (DE-588)4055072-2 s MOS-FET (DE-588)4207266-9 s Miniaturisierung (DE-588)4406753-7 s Degradation Technik (DE-588)4206992-0 s |
| spellingShingle | Kwasniok, Thomas Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer Simulation (DE-588)4055072-2 gnd Computersimulation (DE-588)4148259-1 gnd MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 gnd Miniaturisierung (DE-588)4406753-7 gnd Degradation Technik (DE-588)4206992-0 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4055072-2 (DE-588)4148259-1 (DE-588)4207266-9 (DE-588)4135571-4 (DE-588)4406753-7 (DE-588)4206992-0 (DE-588)4113937-9 |
| title | Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer |
| title_auth | Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer |
| title_exact_search | Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer |
| title_full | Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer Thomas Kwasniok |
| title_fullStr | Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer Thomas Kwasniok |
| title_full_unstemmed | Simulation integrierter MOS-Schaltungen Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer Thomas Kwasniok |
| title_short | Simulation integrierter MOS-Schaltungen |
| title_sort | simulation integrierter mos schaltungen miniaturisierungseffekte und lebensdauer |
| title_sub | Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer |
| topic | Simulation (DE-588)4055072-2 gnd Computersimulation (DE-588)4148259-1 gnd MOS-FET (DE-588)4207266-9 gnd MOS-Schaltung (DE-588)4135571-4 gnd Miniaturisierung (DE-588)4406753-7 gnd Degradation Technik (DE-588)4206992-0 gnd |
| topic_facet | Simulation Computersimulation MOS-FET MOS-Schaltung Miniaturisierung Degradation Technik Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT kwasniokthomas simulationintegriertermosschaltungenminiaturisierungseffekteundlebensdauer |