Modeling of electrical overstress in integrated circuits:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Díaz, Carlos H. (VerfasserIn), Kang, Sung-Mo (VerfasserIn), Duvvury, Charvaka (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston u.a. Kluwer 1995
Schriftenreihe:The Kluwer international series in engineering and computer science 289
Schlagworte:
Beschreibung:XXIII, 148 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0792395050

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