Verfügbarkeit: Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen

Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen:

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Jacomet, Marcel (VerfasserIn)
Format:	Mikrofilm Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	1990
Ausgabe:	[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:	Prüftechnik Layout > Mikroelektronik Testmustergenerierung Test Fehleranalyse CMOS-Schaltung Hochschulschrift
Beschreibung:	Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1990. - Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x. - Auch als: Series in microelectronics. 8
Beschreibung:	XIII, 271 S. Ill., graph. Darst.

Internformat

MARC


LEADER	00000nam a2200000 c 4500
001	BV010431414
003	DE-604
005	19960916
007	he\|uuuuuuuuuu
008	951018s1990 ad\|\| bm\|\|\| 00\|\|\| gerod
035			\|a (OCoLC)632566708
035			\|a (DE-599)BVBBV010431414
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rakddb
041	0		\|a ger
049			\|a DE-91 \|a DE-29T \|a DE-11
084			\|a UX 2350 \|0 (DE-625)146952: \|2 rvk
084			\|a ZN 4030 \|0 (DE-625)157339: \|2 rvk
084			\|a ZN 4960 \|0 (DE-625)157426: \|2 rvk
084			\|a ELT 359d \|2 stub
100	1		\|a Jacomet, Marcel \|e Verfasser \|4 aut
245	1	0	\|a Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen \|c vorgelegt von Marcel Jacomet
250			\|a [Mikrofiche-Ausg.]
264		1	\|c 1990
300			\|a XIII, 271 S. \|b Ill., graph. Darst.
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b h \|2 rdamedia
338			\|b he \|2 rdacarrier
500			\|a Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1990. - Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x. - Auch als: Series in microelectronics. 8
650	0	7	\|a Prüftechnik \|0 (DE-588)4047610-8 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Layout \|g Mikroelektronik \|0 (DE-588)4264372-7 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Testmustergenerierung \|0 (DE-588)4234817-1 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Test \|0 (DE-588)4059549-3 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Fehleranalyse \|0 (DE-588)4016608-9 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a CMOS-Schaltung \|0 (DE-588)4148111-2 \|2 gnd \|9 rswk-swf
655		7	\|0 (DE-588)4113937-9 \|a Hochschulschrift \|2 gnd-content
689	0	0	\|a CMOS-Schaltung \|0 (DE-588)4148111-2 \|D s
689	0	1	\|a Testmustergenerierung \|0 (DE-588)4234817-1 \|D s
689	0		\|5 DE-604
689	1	0	\|a CMOS-Schaltung \|0 (DE-588)4148111-2 \|D s
689	1	1	\|a Layout \|g Mikroelektronik \|0 (DE-588)4264372-7 \|D s
689	1	2	\|a Fehleranalyse \|0 (DE-588)4016608-9 \|D s
689	1		\|8 1\p \|5 DE-604
689	2	0	\|a Prüftechnik \|0 (DE-588)4047610-8 \|D s
689	2	1	\|a CMOS-Schaltung \|0 (DE-588)4148111-2 \|D s
689	2	2	\|a Layout \|g Mikroelektronik \|0 (DE-588)4264372-7 \|D s
689	2		\|8 2\p \|5 DE-604
689	3	0	\|a CMOS-Schaltung \|0 (DE-588)4148111-2 \|D s
689	3	1	\|a Test \|0 (DE-588)4059549-3 \|D s
689	3		\|8 3\p \|5 DE-604
999			\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006951272
883	1		\|8 1\p \|a cgwrk \|d 20201028 \|q DE-101 \|u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk
883	1		\|8 2\p \|a cgwrk \|d 20201028 \|q DE-101 \|u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk
883	1		\|8 3\p \|a cgwrk \|d 20201028 \|q DE-101 \|u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk

Datensatz im Suchindex

_version_	1804124864177504256
any_adam_object
author	Jacomet, Marcel
author_facet	Jacomet, Marcel
author_role	aut
author_sort	Jacomet, Marcel
author_variant	m j mj
building	Verbundindex
bvnumber	BV010431414
classification_rvk	UX 2350 ZN 4030 ZN 4960
classification_tum	ELT 359d
ctrlnum	(OCoLC)632566708 (DE-599)BVBBV010431414
discipline	Physik Elektrotechnik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik
edition	[Mikrofiche-Ausg.]
format	Microfilm Book
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02436nam a2200601 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV010431414</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19960916 </controlfield><controlfield tag="007">he\|uuuuuuuuuu</controlfield><controlfield tag="008">951018s1990 ad\|\| bm\|\|\| 00\|\|\| gerod</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)632566708</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV010431414</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UX 2350</subfield><subfield code="0">(DE-625)146952:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4030</subfield><subfield code="0">(DE-625)157339:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4960</subfield><subfield code="0">(DE-625)157426:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 359d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Jacomet, Marcel</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Marcel Jacomet</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">[Mikrofiche-Ausg.]</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1990</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XIII, 271 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">h</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">he</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1990. - Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x. - Auch als: Series in microelectronics. 8</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Test</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059549-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Testmustergenerierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4234817-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4047610-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="2"><subfield code="a">Layout</subfield><subfield code="g">Mikroelektronik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4264372-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4148111-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="1"><subfield code="a">Test</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059549-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006951272</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection>
genre	(DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content
genre_facet	Hochschulschrift
id	DE-604.BV010431414
illustrated	Illustrated
indexdate	2024-07-09T17:52:26Z
institution	BVB
language	German
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006951272
oclc_num	632566708
open_access_boolean
owner	DE-91 DE-BY-TUM DE-29T DE-11
owner_facet	DE-91 DE-BY-TUM DE-29T DE-11
physical	XIII, 271 S. Ill., graph. Darst.
publishDate	1990
publishDateSearch	1990
publishDateSort	1990
record_format	marc
spelling	Jacomet, Marcel Verfasser aut Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet [Mikrofiche-Ausg.] 1990 XIII, 271 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent h rdamedia he rdacarrier Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1990. - Mikrofiche-Ausg.: 3 Mikrofiches : 24x. - Auch als: Series in microelectronics. 8 Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd rswk-swf Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd rswk-swf Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd rswk-swf Test (DE-588)4059549-3 gnd rswk-swf Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd rswk-swf CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 s Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 s DE-604 Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 s Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 s 1\p DE-604 Prüftechnik (DE-588)4047610-8 s 2\p DE-604 Test (DE-588)4059549-3 s 3\p DE-604 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 3\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk
spellingShingle	Jacomet, Marcel Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd Test (DE-588)4059549-3 gnd Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd
subject_GND	(DE-588)4047610-8 (DE-588)4264372-7 (DE-588)4234817-1 (DE-588)4059549-3 (DE-588)4016608-9 (DE-588)4148111-2 (DE-588)4113937-9
title	Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
title_auth	Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
title_exact_search	Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
title_full	Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet
title_fullStr	Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet
title_full_unstemmed	Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen vorgelegt von Marcel Jacomet
title_short	Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
title_sort	layoutabhangige fehleranalyse und testsynthese integrierter cmos schaltungen
topic	Prüftechnik (DE-588)4047610-8 gnd Layout Mikroelektronik (DE-588)4264372-7 gnd Testmustergenerierung (DE-588)4234817-1 gnd Test (DE-588)4059549-3 gnd Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd CMOS-Schaltung (DE-588)4148111-2 gnd
topic_facet	Prüftechnik Layout Mikroelektronik Testmustergenerierung Test Fehleranalyse CMOS-Schaltung Hochschulschrift
work_keys_str_mv	AT jacometmarcel layoutabhangigefehleranalyseundtestsyntheseintegriertercmosschaltungen

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MARC

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