APA (7th ed.) Citation

Keimel, J. (1995). Tiefenaufgelöste Röntgenuntersuchungen an epitaktischen Nanometer-Schichten in Silizium.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Keimel, Josef. Tiefenaufgelöste Röntgenuntersuchungen an Epitaktischen Nanometer-Schichten in Silizium. 1995.

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Keimel, Josef. Tiefenaufgelöste Röntgenuntersuchungen an Epitaktischen Nanometer-Schichten in Silizium. 1995.

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