Keimel, J. (1995). Tiefenaufgelöste Röntgenuntersuchungen an epitaktischen Nanometer-Schichten in Silizium.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Keimel, Josef. Tiefenaufgelöste Röntgenuntersuchungen an Epitaktischen Nanometer-Schichten in Silizium. 1995.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Keimel, Josef. Tiefenaufgelöste Röntgenuntersuchungen an Epitaktischen Nanometer-Schichten in Silizium. 1995.
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