Optische Untersuchungen zur implantationsinduzierten Defektverteilung in III-V-Verbindungshalbleitern:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kieslich, Albrecht (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1995
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:144 S. Ill., graph. Darst.

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