Scanning tunneling microscopy: special issue ; [the 2nd International Colloquium on Scanning Tunneling Microscopy was held at Kanazawa Institute of Technology from December 8 to 10, 1994]
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Tokyo Japanese Journal of Applied Physics 1995
Schriftenreihe:Japanese journal of applied physics / A 34,6/2
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zs.-Heftes
Beschreibung:S. 3309 - 3411 graph. Darst.

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