Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1995
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 18]
175 |
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| Beschreibung: | Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1994 |
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| adam_text | Titel: Untersuchungen belasteter Risse mit dem Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskop
Autor: Göken, Mathias
Jahr: 1995
V Inhaltsverzeichnis 1 Einleitung 1 2 Die Raster-Sondenmikroskopie im Überblick 3 2.1 Einführung ................................ 3 2.2 Die Raster-Tunnelmikroskopie...................... 5 2.3 Allgemeine Grundlagen der Raster-Kraftmikroskopie......... 8 2.3.1 Kräfte in der Raster-Kraftmikroskopie.............10 2.3.2 Betriebsarten des AFM...................... 13 2.4 Vergleich von AFM und STM...................... 14 3 Aufbau eines UHV-Raster-Tunnelmikroskops 17 3.1 Technische Grundlagen.......................... 17 3.2 Der Mikropositionierer.......................... 19 3.2.1 Trägheitsantriebe......................... 19 3.2.2 Aufbau des dreidimensionalen Mikropositionierers.......21 3.3 Der Piezoscanner.............................27 3.4 Das UHV-System mit Schwingungsdämpfung.............29 3.5 Die Elektronik........................... 33 3.6 Die Bildverarbeitung...........................34 4 Herstellung und Charakterisierung der Rastersonden 36 4.1 Spitzenherstellung für die Raster-Tunnelmikroskopie.........36 4.2 Sonden für die Raster-Kraftmikroskopie................39
VI 5 Anwendungsbeispiele der Raster—Sondenmikroskopie 41 5.1 Messungen mit dem UHV-STM.....................41 5.2 AFM-Messungen.............................46 5.2.1 Gefügeuntersuchungen......................46 5.2.2 Das Oxidationsverhalten der Legierung Fe20%Cr .......51 5.2.3 NiAl-Bruchflächenuntersüchungen . . . . ?............52 5.2.4 Vickers-Eindrücke in Silizium..................54 6 Die Probenpräparation 56 6.1 NiAl-Einkristalle.............................56 6.2 Die verwendeten Probenformen.....................57 6.3 Die Rißerzeugung und Bruchzähigkeit...................58 6.4 Die Oberflächenpräparation . . .....................59 7 Untersuchungen spröder RiSspitzen 62 7.1 Spröde Risse in der LEBM........................62 7.2 Das Verformungsfeld spröder Risse in NiAl...............66 7.2.1 AFM- und REM-Messungen im Vergleich...........67 7.2.2 Rißprofilmessungen........................75 7.3 Spröde Risse unter Last .........................79 7.3.1 ’in situ’Belastungsapparaturen........ 79 7.3.2 Mode-III-Risse unter Last........... 81 7.3.3 Stetige Belastung von Rissen im Mode I . . ..........84 7.3.4 Elastische Verformungsfelder an der Rißspitze.........91 7.4 Ausblick..................................97 8 Zusammenfassung 99 Anhang A 101 A.l Elektrolytische Präparation von W-Spitzen...............101 A.2 Schaltpläne................................102 Literaturverzeichnis 103
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