Theoretical foundation of x-ray and neutron reflectometry:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Zhou, Xiaolin (VerfasserIn), Chen, Sow-Hsin 1935- (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam u.a. North-Holland 1995
Schriftenreihe:Physics reports 257,4/5
Schlagworte:
Beschreibung:S. 225 - 348 graph. Darst.

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