XPS-XAES-Untersuchungen zur elektronischen und atomaren Struktur von amorphen Siliciumoxynitriden:
Gespeichert in:
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| Format: | Mikrofilm Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1994
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| Ausgabe: | Mikrofiche-Ausg. |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Rostock, Univ., Diss., 1994. - Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x |
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