Hempel, K. (1994). Entwicklung interner Testmethoden für zeitaufgelöste Untersuchungen an Hochgeschwindigkeitsschaltkreisen auf der Grundlage der Laser-Scanning-Mikroskopie.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hempel, Klaus. Entwicklung Interner Testmethoden Für Zeitaufgelöste Untersuchungen an Hochgeschwindigkeitsschaltkreisen Auf Der Grundlage Der Laser-Scanning-Mikroskopie. 1994.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hempel, Klaus. Entwicklung Interner Testmethoden Für Zeitaufgelöste Untersuchungen an Hochgeschwindigkeitsschaltkreisen Auf Der Grundlage Der Laser-Scanning-Mikroskopie. 1994.
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