Tiefenabhängige Messung von Diffusionslängen mit dem Photostrom-Messverfahren Elymat:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Falter, Thomas (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Aachen Shaker 1995
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Erlanger Berichte Mikroelektronik 1995,1
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1995
Beschreibung:III, 99 S. graph. Darst.
ISBN:3826506588

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