Ultrakurze Laserpulse zur Charakterisierung von Halbleitergrenzflächen:
Gespeichert in:
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|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Aachen
Shaker
1995
|
| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Berichte aus der Elektrotechnik
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| Beschreibung: | 105 S. graph. Darst. |
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
1
2
NICHTLINEARE
OPTIK
AN
GRENZFLAECHEN
4
2.1
DIE
ERZEUGUNG
DER
ZWEITEN
HARMONISCHEN
AN
GRENZFLAECHEN
7
2.2
OPTISCHE
FREQUENZVERDOPPLUNG
AN
HALBLEITERGRENZFLAECHEN
.
15
2.3
DAS
MODELL
DES
ANHARMONISCHEN
OSZILLATORS
.
19
3
DIE
ERZEUGUNG
KURZER
LASERPULSE
22
4
AUFBAU
DES
LASERSYSTEMS
29
4.1
DER
ND:YLF-PUTNPLASER
.
30
4.2
DER
REGENERATIVE
ND:YLF-VERSTAERKER
.
33
4.3
DER
TITAN-SAPHIR-LASER
.
35
4.4 DIE
ERZEUGUNG
VON
LASER-PULSEN
IM
MITTLEREN
INFRAROT
.
.
41
4.5
DIE
OPTISCHEN
MESSAUFBAUTEN
.
51
5
MESSUNGEN
AN
SILIZIUM-OBERFLAECHEN
54
5.1
ABHAENGIGKEIT
VON
POLARISATION
UND
ROTATIONSWINKEL
.
61
5.2
VERGLEICH
VON
WASSERSTOFF-TERMINIERTEN
UND
OXIDIERTEN
PROBEN
63
5.3
EINFLUSS
DER
FEHLORIENTIERUNGSRICHTUNG
.
68
5.4
EINFLUSS
VON
AUSHEILSCHRITTEN
.
70
5.5
VERGLEICH
MIT
MESSUNGEN
BEI
ANDEREN
WELLENLAENGEN
.
74
5.6
DISKUSSION
.
78
5.6.1
OBERFLAECHENRESONANZEN
.
78
5.6.2
RESONANZAENDERUNG
DURCH
DEN
AUSHEILPROZESS
.
81
6
ORTSAUFGELOESTE
MESSUNGEN
AN
IH-V-MATERIALIEN
83
6.1
ERFASSUNG
VON
KRISTALLSCHAEDEN
AN
GAAS-OBERFLAECHEN
.
84
7
ZUSAMMENFASSUNG
90
ANHANG
93
A
DER
CPM-LASER
.
93
B
DER
AUTOKORRELATOR
.
94
LITERATURVERZEICHNIS
96
ABBILDUNGSVERZEICHNIS
104
TABELLENVERZEICHNIS
105 |
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