Single-Event-Upset-Imaging: eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1994
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Siegen, Univ. Gesamthochsch., Diss., 1994 |
| Beschreibung: | 80 S. graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV010018929 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 950131s1994 d||| m||| 00||| gerod | ||
| 035 | |a (OCoLC)58974239 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV010018929 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-355 |a DE-83 |a DE-11 | ||
| 084 | |a ELT 240d |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Metzger, Stefan |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Single-Event-Upset-Imaging |b eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs |c von Stefan Metzger |
| 264 | 1 | |c 1994 | |
| 300 | |a 80 S. |b graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 500 | |a Siegen, Univ. Gesamthochsch., Diss., 1994 | ||
| 650 | 0 | 7 | |a Schweres Ion |0 (DE-588)4180494-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a CMOS-Speicher |0 (DE-588)4278777-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Strahlenschaden |0 (DE-588)4057825-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a CMOS-Speicher |0 (DE-588)4278777-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Schweres Ion |0 (DE-588)4180494-6 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Strahlenschaden |0 (DE-588)4057825-2 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006641982 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804124397355663360 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Metzger, Stefan |
| author_facet | Metzger, Stefan |
| author_role | aut |
| author_sort | Metzger, Stefan |
| author_variant | s m sm |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV010018929 |
| classification_tum | ELT 240d |
| ctrlnum | (OCoLC)58974239 (DE-599)BVBBV010018929 |
| discipline | Elektrotechnik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01263nam a2200361 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV010018929</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">950131s1994 d||| m||| 00||| gerod</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)58974239</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV010018929</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 240d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Metzger, Stefan</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Single-Event-Upset-Imaging</subfield><subfield code="b">eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs</subfield><subfield code="c">von Stefan Metzger</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1994</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">80 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Siegen, Univ. Gesamthochsch., Diss., 1994</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Schweres Ion</subfield><subfield code="0">(DE-588)4180494-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CMOS-Speicher</subfield><subfield code="0">(DE-588)4278777-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Strahlenschaden</subfield><subfield code="0">(DE-588)4057825-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">CMOS-Speicher</subfield><subfield code="0">(DE-588)4278777-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Schweres Ion</subfield><subfield code="0">(DE-588)4180494-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Strahlenschaden</subfield><subfield code="0">(DE-588)4057825-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006641982</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV010018929 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T17:45:01Z |
| institution | BVB |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006641982 |
| oclc_num | 58974239 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-355 DE-BY-UBR DE-83 DE-11 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-355 DE-BY-UBR DE-83 DE-11 |
| physical | 80 S. graph. Darst. |
| publishDate | 1994 |
| publishDateSearch | 1994 |
| publishDateSort | 1994 |
| record_format | marc |
| spelling | Metzger, Stefan Verfasser aut Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs von Stefan Metzger 1994 80 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Siegen, Univ. Gesamthochsch., Diss., 1994 Schweres Ion (DE-588)4180494-6 gnd rswk-swf CMOS-Speicher (DE-588)4278777-4 gnd rswk-swf Strahlenschaden (DE-588)4057825-2 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content CMOS-Speicher (DE-588)4278777-4 s Schweres Ion (DE-588)4180494-6 s Strahlenschaden (DE-588)4057825-2 s DE-604 |
| spellingShingle | Metzger, Stefan Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs Schweres Ion (DE-588)4180494-6 gnd CMOS-Speicher (DE-588)4278777-4 gnd Strahlenschaden (DE-588)4057825-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4180494-6 (DE-588)4278777-4 (DE-588)4057825-2 (DE-588)4113937-9 |
| title | Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs |
| title_auth | Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs |
| title_exact_search | Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs |
| title_full | Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs von Stefan Metzger |
| title_fullStr | Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs von Stefan Metzger |
| title_full_unstemmed | Single-Event-Upset-Imaging eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs von Stefan Metzger |
| title_short | Single-Event-Upset-Imaging |
| title_sort | single event upset imaging eine methode zur untersuchung der strahleneffekte einzelner schwerionen in cmos srams |
| title_sub | eine Methode zur Untersuchung der Strahleneffekte einzelner Schwerionen in CMOS SRAMs |
| topic | Schweres Ion (DE-588)4180494-6 gnd CMOS-Speicher (DE-588)4278777-4 gnd Strahlenschaden (DE-588)4057825-2 gnd |
| topic_facet | Schweres Ion CMOS-Speicher Strahlenschaden Hochschulschrift |
| work_keys_str_mv | AT metzgerstefan singleeventupsetimagingeinemethodezuruntersuchungderstrahleneffekteeinzelnerschwerionenincmossrams |