Untersuchung von Si + -implantiertem Silizium mit Röntgenbeugung unter streifendem Ein- und Ausfallswinkel:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rugel, Stefan (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1992
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:46 S. graph. Darst.

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