Methoden zum automatischen Test von digitalen, analogen und Mixed-Signal-Schaltungen:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI-Verl.
1994
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| Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
| Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschrittberichte VDI / 8]
420 |
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| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Beschreibung: | Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1994 |
| Beschreibung: | XI, 209 S. Ill., graph. Darst. |
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| adam_text | Titel: Methoden zum automatischen Test von digitalen, analogen und Mixed-Signal-Schaltungen
Autor: Schmitz, Christian
Jahr: 1994
Inhaltsverzeichnis V Inhaltsverzeichnis Abkürzungen und Formelzeichen VIII 1 Einleitung und Problemstellung 1 2 Einführung in den Schaltungstest 5 2.1 Überblick über die Testsysteme 5 2.1.1 Analogtester 6 2.1.2 Digitaltester 7 2.1.3 Mixed-Signal-Tester 10 2.2 Ablauf eines Schaltungstests 14 3 Der Digitaltest 10 3.1 Der testfreundliche Schaltungsentwurf 16 3.1.1 Ad hoc-Methoden 17 3.1.2 Scan-Pfad-Design 18 3.1.2.1 Struktur und Test einer Scan-Pfad-Schaltung 19 3.1.2.2 Level Sensitive Scan Design 21 3.1.2.3 Der partielle Scan-Pfad 22 3.1.2.4 Vor- und Nachteile des Scan-Pfad-Designs 22 3.1.3 Selbsttesteinrichtungen 23 3.1.4 Verbesserung der Testbarkeit durch Partitionierung 26 3.1.5 Boundary-Scan-Methode 28 3.1.6 Testbus-Konzept 31 3.2 Testmustergenerierung 33 3.2.1 Fehlermodelle 34 3.2.2 Methoden der Testmustergenerierung 36 3.2.2.1 Funktionale Testmuster 36 3.2 2.2 Algorithmisch erzeugte Testmuster 37 3.2.2 3 Stochastische Testmuster 38 3.3 Testmustergenerierung für Scan-Pfad-Schaltungen 40 3.3.1 Alternatives Verfahren zur Testmustergenerierung 41 3.3.1.1 Funktion des Preprozessors SCANS 15 PRE 41 3.3.1.2 Funktion des Postprozessors SCANS 15 POST 44 3.3.2 Anwendung des SCANS 15-Verfahrens 46
VI Inhaltsverzeichnis 3.4 Testmusterumsetzung 48 3.4.1 Das Zwischenformat CADDIF 52 3.4.2 Der Programmgenerator PROGEN 52 3.4.2.1 Aufbau und Syntax der EFD-Sprache 53 3.4.2 2 Aufbau des Programmgenerators PROGEN 55 3.4.2 3 Struktur des generierten Preprozessors 59 3.4.2 4 Die Vorteile von PROGEN gegenüber herkömmlichen Verfahren 60 3.4.3 Der Postprozessor POSTPRO 61 3.4.3.1 Der Format-Algorithmus 64 3.4.3 2 Die Zeit-Algorithmen 68 3.4.3 3 Das Testerformat-Modul 72 3.4.3 4 Die Vorteile von POSTPRO gegenüber kommerziellen 73 Postprozessoren 4 Der Analog-Test 74 4.1 Aufbau des modularen Mixed-Signal-Testers 75 4.1.1 Das Hardware-Konzept 75 4.1.1.1 Meßkomponenten für den Analogtest 76 4.1.1.2 Der Parallelrechner zur schnellen Analyse der Meßwerte 78 4.1.1.3 Aufbau des Mixed-Signal-Load-Boards 79 4.1.1.4 Speicherkarte zur parallelen Datenübemahme 82 4.1.2 Das Software-Konzept 86 4.2 Testverfahren basierend auf der digitalen Signalverarbeitung 89 4.2.1 Untersuchung numerischer Transformationen zur digitalen Signalverarbeitung 91 4.2.1.1 Die diskrete Fourier-Transformation 92 4.2.1.2 Die diskrete Hartley-Transformation 95 4.2.1.3 Vergleich der schnellen Fourier- und Hartley-Transformation 97 4.2.2 Grundprinzip der kohärenten Messung 102 4.2.3 Entwicklung eines programmierbaren Taktgenerators zur M/N- 106 Synchronisation 4.2.3.1 Methoden der Frequenzsynthese 107 4.2.32 Grundkonzept der programmierbaren Taktgeneratoren 113 4.2.3 3 Der Taktgenerator für den Bereich von 80 Hz bis 3 MHz 115 4.2.3.4 Der Taktgenerator für den Bereich von 1 MHz bis 100 MHz 120 4.2.4 Grundprinzip des Multiton-Testverfahrens 121 4.2.5 Entwurf von Multiton-Signalen mit niedrigem Crest-Faktor 123 4.2.5.1 Optimierung der Crest-Faktor-Algorithmen 126
Inhaltsverzeichnis VII 4 2.5.2 Verhalten des Crest-Faktors bei nichtlinearen Phasen 129 4.3 Analyse von Testmethoden für Analog/Digital-Umsetzer 131 4.3.1 Umsetzerklassen und Fehlertypen 131 4.3.2 Vergleich der statischen Testmethoden 137 4.3.3 Vergleich der dynamischen Testmethoden 140 4.3.4 Gegenüberstellung der statischen und dynamischen Testverfahren 145 5 Untersuchung verschiedener Testverfahren mit dem neuen Testsystem 148 5.1 Beispiel 1: Test eines Tiefpaßfilters in SC-Technik 148 5.2 Beispiel 2: Test eines Bandpaßfilters 153 5.3 Beispiel 3: Test eines Analog/Digital-Umsetzers 156 6 Zusammenfassung 159 Anhang 163 A Beispiel für eine Parameter-Datei 163 B Das CADDIF-Format 164 C Beispiel für eine Easy Format Description-Datei 166 D Der Transformationsalgorithmus 169 E Schaltpläne der Speicherkarte und der programmierbaren Taktgeneratoren 177 Literaturverzeichnis 181
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