Secure testing of VLSI cryptographic equipment:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bonnenberg, Heinz (VerfasserIn)
Format: Mikrofilm Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: 1993
Schlagworte:
Beschreibung:Zürich, Eidgenössische Techn. Hochsch., Diss., - Mikroreprod. e. Ms. XV, 123 S. : Ill., graph. Darst.
Beschreibung:2 Mikrofiches 24x

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