Der Einfluß thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen Halbleiterfilmen:
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Bibliographic Details
Main Author: Roos, Bernd (Author)
Format: Book
Language:German
Published: Düsseldorf VDI-Verl. 1994
Edition:Als Ms. gedr.
Series:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 5] 358
Subjects:
Online Access:Inhaltsverzeichnis
Item Description:Zugl.: Diss.
Physical Description:127 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3183358050

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