Der Einfluß thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen Halbleiterfilmen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Roos, Bernd (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Düsseldorf VDI-Verl. 1994
Ausgabe:Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 5] 358
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:Zugl.: Diss.
Beschreibung:127 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3183358050

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