Rauh, H. (1989). Wacker's atlas for characterization of defects in silicon. Wacker-Chemitronic GmbH.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Rauh, Herbert. Wacker's Atlas for Characterization of Defects in Silicon. Burghausen: Wacker-Chemitronic GmbH, 1989.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Rauh, Herbert. Wacker's Atlas for Characterization of Defects in Silicon. Wacker-Chemitronic GmbH, 1989.
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