Wacker's atlas for characterization of defects in silicon:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rauh, Herbert (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Burghausen Wacker-Chemitronic GmbH [1989]
Schlagworte:
Beschreibung:64 S. überw. Ill.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!