Proceedings: 29 October - 5 November 1993, Wuhan, China 1
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments Wuhan (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE (1993)
Schriftenreihe:Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers: Proceedings of SPIE 2101,1
Beschreibung:XXI, 768 S. zahlr. Ill. u. graph. Darst.

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