Stenkamp, D. (1993). Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie. Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Stenkamp, Dirk. Kompositionelle Und Strukturelle Charakterisierung Von Verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen Mit Hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie. Jülich: Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, 1993.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Stenkamp, Dirk. Kompositionelle Und Strukturelle Charakterisierung Von Verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen Mit Hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie. Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, 1993.
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