Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Stenkamp, Dirk (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Jülich Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek 1993
Schriftenreihe:Forschungszentrum <Jülich>: Berichte des Forschungszentrums Jülich 2839
Schlagworte:
Beschreibung:Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
Beschreibung:134 S. Ill., graph. Darst.

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