Spektroskopische Ellipsometrie an Halbleitergrenzflächen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Rossow, Uwe (VerfasserIn)
Format: Mikrofilm Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1993
Ausgabe:[Mikrofiche-Ausg.]
Schlagworte:
Beschreibung:Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x. - Berlin, Freie Univ., Diss., 1993
Beschreibung:136 Bl.

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