Konzeption und Aufbau eines modularen Raster-Nahfeldmikroskops sowie Kraftsensoren mit integriertem Detektionsmechanismus:
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
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| Veröffentlicht: |
1994
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INHALT
EINLEITUNG
1
1
PRINZIPIEN
UND
ANWENDUNGEN
DER
RASTER-NAHFELD-MIKROSKOPIE
5
1.1
DIE
RASTER
TUNNELMIKROSKOPIE
.
7
1.2
DIE
RASTER
KRAFTMIKROSKOPIE
.
9
1.2.1
DAS
STATISCHE
SFM
.
10
1.2.2
DAS
DYNAMISCHE
SFM
.
11
1.2.3
WECHSELWIRKUNGEN
ZWISCHEN
SPITZE
UND
PROBE
.
12
1.2.3.1
ELEKTROSTATISCHE
WECHSELWIRKUNG
.
13
1.2.3.2
VAN
DER
WAALS
WECHSELWIRKUNG
.
14
1.2.3.3
ADHAESIONS
UND
KAPILLARKRAEFTE
.
14
1.2.3.4
HYDRODYNAMISCHE
WECHSELWIRKUNG
.
15
1.3
WEITERE
MOEGLICHE
ANWENDUNGSGEBIETE
.
16
1.3.1
RASTER-WAERMEMIKROSKOPIE
.
16
1.3.2
RASTER-IONENLEITFAEHIGKEITSMIKROSKOPIE
.
17
1.3.3
RASTER-KAPAZITAETSMIKROSKOPIE
.
17
1.3.4
OPTISCHE
RASTER-NAHFELDMIKROSKOPIE
.
17
1.3.5
AKUSTISCHE
RASTER-NAHFELDMIKROSKOPIE
.
18
2
ALLGEMEINER
AUFBAU
DES
MODULAREN
SXM-SYSTEMS
19
3
DER
KRAFTSENSOR
MIT
INTEGRIERTEM
DETEKTIONSMECHANISMUS
25
3.1
DER
SENSOR
MIT
PIEZORESISTIVER
DETEKTION
.
27
3.1.1
HERSTELLUNG
DES
SENSORS
.
28
3.1.2
ERSTE
ERGEBNISSE
.
28
3.2
UNTERSUCHUNGEN
ZUR
PIEZOELEKTRISCHEN
DETEKTION
.
37
4
DER
MEFLKOPF
41
4.1
DIE
RAST.EREINHEIT
.
41
II
INHALT
4.1.1
EIGENSCHAFTEN
DER
PIEZOKERAMIK
.
42
4.1.2
AUFBAU
UND
STEUERUNG
DES
PIEZOKERARNISCHEN
STELLGLIEDES
.
46
4.1.3
RASTERFELDGROESSE
.
47
4.2
MECHANIK
DES
STM/SFM-MESSKOPFES
.
48
4.2.1
AUSTAUSCH
VON
SENSOR
UND
PROBE
.
52
4.2.2
ANNAEHERUNG
DER
PROBE
AN
DEN
SENSOR
.
53
4.2.3
OPTIONALE
X/Y-GROBPOSITIONIERUNGS-EINHEIT
.
55
5
DIE
STEUERELEKTRONIK
UND
DER
SYSTEMRECHNER
57
5.1
DIE
AUFGABEN
DER
STEUERELEKTRONIK
.
57
5.1.1
DIE
KONTROLLIERTE
GROBANNAEHERUNG
VON
PROBE
UND
SENSOR
.
57
5.1.2
DIE
ABSTANDSREGELUNG
ZWISCHEN
PROBE
UND
SENSOR
.
58
5.1.3
DIE
RASTERFOERMIGE
BEWEGUNG
DES
SENSORS
UND
DIE
DATENAUFNAHME
58
5.2
DER
AUFBAU
DER
STEUERELEKTRONIK
.
59
5.2.1
DIE
SIGNALPROZESSORPLATINE
DSPS2
.
59
5.2.2
DIE
SCHNITTSTELLEN
PLATINE
ADDA
.
62
5.3
DER
SYSTEMRECHNER
.
65
5.3.1
AUFGABEN
DES
SYSTEMRECHNERS
.
65
5.3.2
AUFBAU
DES
SYSTEMRECHNERS
.
65
6
SOFTWARE-ENTWICKLUNGSUMGEBUNG
UND
HILFSPROGRAMME
67
6.1
ENTWICKLUNGSUMGEBUNG
FUER
DIE
DSP
UND
DIE
IBM
AT-SOFTWARE
.
67
6.2
DSPS2
MONITOR
UND
IBM
AT-TERMINALEMULATION
.
69
7
STEUERSOFTWARE
DES
SXM
71
7.1
ALLGEMEINE
PUNKTE
.
71
7.2
ERMITTLUNG
DER
SYSTEMKONFIGURATION
.
72
7.2.1
INTERNE
KONFIGURATION
.
73
7.2.2
EXTERNE
KONFIGURATION
.
74
7.3
AUTOMATISCHE
GROBANNAEHERUNG
.
76
7.4
DIE
ABSTANDSREGELUNG
.
78
7.4.1
DER
REGELKREIS
.
78
7.4.2
DIE
PID-REGELUNG
.
79
7.4.2.1
DER
YYANALOGE
"
,
HARDWAREMAESSIGE
PID-REGLER
.
80
INHALT
III
7.4.2.2
DER
YYDIGITALE
"
,
SOFTWAREMAESSIGE
PID-REGLER
.
81
7.4.2.3
IMPLEMENTATION
DES
PID
REGLERS
.
82
7.4.3
HOEHERE
REGELALGORITHMEN
.
83
7.4.3.1
FUZZY
LOGIC
.
84
7.4.3.2
NEURONALE
NETZWERKE
.
86
7.5
RASTERUNG
UND
DATENAUFNAHME
.
87
7.5.1
SPEICHERUNG
UND
DARSTELLUNG
DER
ADC
DATEN
.
87
7.5.2
RASTERUNG
UND
GENERIERUNG
VON
DATENSAETZEN
.
88
8
DAS
BILDVERARBEITUNGS-PROGRAMM
"
HBV
"
93
8.1
ANFORDERUNGEN
AN
DIE
RECHNERHARDWARE
.
93
8.1.1
ARBEITSSPEICHER
UND
FESTPLATTENKAPAZITAET
.
93
8.1.2
PROZESSOR
UND
MATH.
COPROZESSOR
.
94
8.1.3
GRAFIKADAPTER
UND
MONITOR
.
95
8.2
DIE
BENUTZERSCHNITTSTELLE
.
96
8.2.1
DER
MENUEGENERATOR
.
96
8.2.2
DIE
KONFIGURATIONSDATEIEN
.
97
8.3
DER
FUNKTIONSBLOCK
ZUM
EINLESEN
UND
GENERIEREN
VON
MESSDATEIEN
.
98
8.3.1
DAS
EINLESEN
VON
MESSDATEN
.
98
8.3.1.1
DAS
"
STM
"
-DATENFORMAT
.
98
8.3.1.2
DAS
"
STD
"
-DATENFORMAT
.
99
8.3.1.3
DER
EINLESEVORGANG
.
99
8.3.2
DIE
ERZEUGUNG
NEUER
ODER
VERAENDERTER
MESSDATEIEN
.
100
8.3.2.1
DAS
ABSPEICHERN
VON
PROZESSIERTEN
MESSDATEN
.
100
8.3.2.2
ERZEUGUNG
VON
VERKLEINERTEN
DATEIEN
.
100
8.4
DIE
DARSTELLUNGSFUNKTIONCN
.
101
8.4.1
DIE
NUTZUNG
DER
FENSTERTECHNIK
.
101
8.4.2
SKALEN
UND
EINHEITEN
.
102
8.4.3
FALSCHFARBEN,
GRAUWERTE
UND
DER
FARBEN
EDITOR
.
103
8.4.3.1
HISTOGRAMMDARSTELLUNG
DER
MESSWERTEVERTEILUNG
.
103
8.4.3.2
FARBLICHE
AUFLOESUNG
VON
WERTEBEREICHEN
.
103
8.4.3.3
FARBTABELLEN
UND
FARBEN
EDITOR
.
105
8.4.4
DIE
ZWEIDIMENSIONALE
DARSTELLUNG
"
TOPVIEW
"
.
107
IV
INHALT
8.4.5
DIE
VERSCHIEDENEN
DREI
UND
VIERDIMENSIONALEN
DARSTELLUNGSARTEN
109
8.4.5.1
VORGABEN
UND
WAHLPARANIETER
FUER
DIE
PERSPEKTIVISCHE
PROJEKTION
.
109
8.4.5.2
LINIEN
UND
GITTERDARSTELLUNGEN
.
HO
8.4.5.3
DARSTELLUNG
VON
ZWEI
MESSGROESSEN
IM
"
4D-BILD
"
.
111
8.4.5.4
GESCHLOSSENE,
BELEUCHTETE
OBERFLAECHE
.
111
8.4.6
DIE
PROFILDARSTELLUNG
.
112
8.5
DIE
ANALYSE
UND
BEARBEITUNGSFUNKTIONEN
.
113
8.5.1
DER
GRUNDEBENENABZUG
.
114
8.5.2
DER
LINIENWEISE
PARABOLISCHE
EIT
.
115
8.5.3
DAS
2D-FFT--MODUL
ZUR
ANALYSE
UND
FILTERUNG
.
116
8.6
DIE
ARCHIVIERUNGSFUNKTIONEN
.
118
8.6.1
DAS
BILDSCHIRM-L/O-MODUL
.
118
8.6.2
DIE
HARDCOPY-FUNKTION
.
118
8.7
ZUSAMMENFASSUNG
DER
WESENTLICHEN
MERKMALE
.
119
9
ZUSAMMENFASSUNG
121
LITERATUR
122
A
BESCHREIBUNG
DES
STD-DATENFORMATES
125
A.L
DIE
HEADERDATEI
(*.STH)
.
125
A.1.1
DIE
IDENTIFIZIERUNG
EINES
HEADER-EINTRAGES
.
125
A.L.
2
DER
WERT
EINES
HEADER-EINTRAGES
.
125
A.L.
3
AUFLISTUNG
DER
BERUECKSICHTIGTEN
EINTRAEGE
.
126
A.L.
3.1
EINTRAEGE
FUER
DIE
ORGANISATION
DER
DATEN
.
126
A.L.
3.2
ZUSAETZLICHE
EINTRAEGE
BEI
STM-MESSUNGEN
.
126
A.L.
3.3
OPTIONALE
EINTRAEGE
.
126
A.
1.3.4
EINTRAEGE
BEI
EXTERNER
ANSTEUERUNG
DER
ADCS
.
127
A.2
DIE
MESSDATENDATEI
(*.STD)
.
129
A.3
DIE
VERARBEITUNG
VON
FREMDDATEN
.
130
A.3.1
AUFBEREITUNG
VON
FLIESSKOMRNADATEN
.
130
A.3.2
AUFBEREITUNG
VON
INTEGERDATEN
.
131
A.3.3
ERSTELLUNG
DER
HEADERDATEI
.
132
A.3.4
BEISPIEL
FUER
EINE
HEADERDATEI
.
133
INHALT
B
BESCHREIBUNG
DER
SYSTEM-KONFIGURATIONS-DATEIEN
137
B.L
INTERNE
KONFIGURATION
.
137
B.1.1
DIE
INTERNE
KONFIGURATIONSDATEI
YYSXMGLOB.
CFG
"
.
137
B.L.
2
BEISPIEL-KONFIGURATIONSDATEI
YYSXMGLOB.CFG
"
.
140
B.2
EXTERNE
KONFIGURATION
.
143
B.2.1
DIE
BESCHREIBUNG
DER
TREIBERSTUFEN
.
143
B.2.
2
BCISPIELDATCI
YYD.IJTIP
DRV
"
FUER
EINEN
TUNNELSPANNUNGS-TREIBER
143
B.2.
3
BEISPIELDATEI
YYD.DRIVZ
DRV
"
FUER
DEN
TREIBER
DER
Z
AUSLENKUNGL43
B.2.
4
DIE
BESCHREIBUNG
DER
RASTEREINHEIT
.
144
B.2.
5
RASTEREINHEIT
BEISPIELDATEI
YYSCAN7.
QPT
"
.
144
B.2.
6
DIE
BESCHREIBUNG
DER
SENSOREN
.
145
B.2.
7
BEISPIELDATEI
YYD.FORCE.
SC
"
ZUR
BESCHREIBUNG
EINES
KRAFTSEN
SORS
MIT
INTEGRIERTER
PIEZORESISTIVER
WHEATSTONE-BRUECKE
.
145
B.2.
8
BEISPIELDATEI
YYD.ISENS.
SC
"
ZUR
BESCHREIBUNG
EINES
SENSORS
FUER
TUNNELSTROM
.
146
B.2.
9
DIE
BESCHREIBUNG
DER
VORVERSTAERKER
.
146
B.2.
10
BEISPIELDATEI
YYD.FPREAM.
SPR
"
ZUR
BESCHREIBUNG
EINES
VOR
VERSTAERKERS
FUER
KRAFTSENSOREN
MIT
PIEZORESISTIVER
WHEATSTONE
BRUECKE
.
147
B.2.
11
BEISPIELDATEI
YYD.IPREAM.
SPR
"
ZUR
BESCHREIBUNG
EINES
VORVER
STAERKERS
FUER
TUNNELSTROM
.
147
DANKSAGUNG
148
LEBENSLAUF
149
LISTE
DER
VEROEFFENTLICHUNGEN
150
ERKLAERUNG
151 |
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| spelling | Schulte, Jürgen Verfasser aut Konzeption und Aufbau eines modularen Raster-Nahfeldmikroskops sowie Kraftsensoren mit integriertem Detektionsmechanismus von Jürgen Schulte 1994 VIII, 151 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Kassel, Univ.-GHS, Diss., 1994 Modulbauweise (DE-588)4125467-3 gnd rswk-swf Rastersondenmikroskop (DE-588)4345854-3 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Rastersondenmikroskop (DE-588)4345854-3 s Modulbauweise (DE-588)4125467-3 s DE-604 DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=006354653&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
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