Beiträge zum CAD-integrierten Test gemischt analog-digitaler Hochgeschwindigkeitsschaltungen auf VLSI-Testsystemen:
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| Published: |
1994
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INHALT
1
EINLEITUNG
UND
MOTIVATION
.
1
1.1
ENTWICKLUNGEN
IN
DER
IC-TECHNIK
.
1
1.2
AUFBAU
UND
TEST
VON
MS-SCHALTUNGEN
.
3
1.3
GRENZEN
DER
PRUEFTECHNIK
.
7
1.4
EIGENER
BEITRAG
.
8
2
ANFORDERUNGEN
AN
EIN
OPTIMIERTES
CAD-INTEGRIERTES
TESTSYSTEM
.
10
2.1
ANFORDERUNGEN
AN
DIE
HARDWARE
DES
TESTSYSTEMS
.
10
2.1.1
ARCHITEKTUR
DES
TESTSYSTEMS
.
10
2.1.2
TESTSYSTEMCHARAKTERISIERUNG
.
12
2.1.3
TESTSYSTEMERWEITERUNGEN
.
12
2.1.4
SYNCHRONISIERUNG
UND
ZEITGENAUIGKEIT
.
13
2.1.5
ZUSAMMENFASSUNG
DER
ANFORDERUNGEN
.
14
2.2
ANFORDERUNGEN
AN
DIE
PROGRAMMSTRUKTUR
UND
-UMGEBUNG
.
15
2.2.1
TESTPROGRAMMERSTELLUNG
.
16
2.2.2
ANBINDUNG
AN
ENTWURFS
UND
SIMULATIONSDATEN
.
17
2.2.3
AUTOMATISIERTE
NACHVERARBEITUNG
UND
BEWERTUNG
DER
MESSERGEBNISSE
.
17
2.2.4
STOERUNEMPFINDLICHE
TESTALGORITHMEN
.
19
2.2.5
SOFTWARE-INTEGRATION
DER
ZUSAETZLICHEN
KOMPONENTEN
.
19
3
STAND
DER
TECHNIK
.
20
3.1
CHARAKTERISTIKA
VERFUEGBARER
MS-TESTSYSTEME
.
20
3.1.1
ARCHITEKTUREN
VERFUEGBARER
MS-TESTSYSTEME
.
20
3.1.2
LEISTUNGSDATEN
VERFUEGBARER
MS-TESTSYSTEME
.
20
3.2
MS-TESTSYSTEME
UND
-ERWEITERUNGEN
FUER
MS
&
HS-TEST
.
21
3.3
CAD-INTEGRATION
UND
CAD-ANBINDUNG
.
21
3.4
FEHLERKOMPENSIERENDE
TESTVERFAHREN
.
22
4
CHARAKTERISIERUNGSSYSTEM
FUER
TESTSYSTEME
.
23
4.1
ZIELDATEN
DES
CHARAKTERISIERUNGSSYSTEMS
.
23
4.2
STRUKTUR
DES
CHARAKTERISIERUNGSSYSTEMS
.
24
4.2.1
HARDWARE-STRUKTUR
.
24
4.2.2
ANSCHLUSS
AN
DAS
TESTSYSTEM
.
26
4.2.3
AUSWAHL
RELEVANTER
PARAMETER
.
27
4.2.4
DATENHALTUNG
.
29
4.3
NUTZUNG
DER
CHARAKTERISIERUNGSDATEN
.
29
4.3.1
ERFASSUNG
UND
BEWERTUNG
DER
LEISTUNGSFAEHIGKEIT
DES
TESTSYSTEMS
.
29
4.3.2
UNTERSTUETZUNG
DER
TESTBARKEIT
IN
DER
ENTWURFSPHASE
.
30
4.3.3
STEIGERUNG
DER
LEISTUNGSFAEHIGKEIT
.
31
4.4
SICHERSTELLUNG
DER
GENAUIGKEIT
FUER
DIE
VALIDIERUNG
DER
CHARAKTERISIERUNGSSDATEN
32
4.4.1
ANFORDERUNGEN
AN
DIE
GENAUIGKEIT
DES
CHARAKTERISIERUNGSEQUIPMENTS
.
32
4.4.2
FEHLERQUELLEN
DURCH
ELEKTRISCHES
VERHALTEN
.
32
4.4.3
STRUKTURBEDINGTE
FEHLERQUELLEN
.
36
5
LEISTUNGSSTEIGERUNG
DURCH
HARDWARE-ERWEITERUNGEN
.
37
5.1
STEIGERUNG
DER
LEISTUNGSFAEHIGKEIT
DURCH
ZUSATZPINELEKTRONIKEN
.
37
5.1.1
ERZEUGUNG
VON
DIGITALEN
HOCHGESCHWINDIGKEITSSIGNALEN
.
38
5.1.1.1
PASSIVE
ZUSAMMCNSCHALTUNG
VON
TESTSYSTEMKANAELEN
.
38
5.1.1.2
KOMBINATORISCHE
VERSCHALTUNG
MIT
HILFE
SCHNELLER
AKTIVER
BAUSTEINE
.
40
5.1.1.3
PARALLEL-SERIELL-UMSETZUNG
.
43
5.1.1.4
AUSGANGSTREIBERSTUFE
.
45
5.1.1.5
PATTERN-SERIALLISIERUNG
.
46
5.1.1.6
VERGLEICH
DER
VERFAHREN
.
46
5.1.2
EMPFAENGER
FUER
DIGITALE
HOCHGESCHWINDIGKEITSSIGNALE
.
47
5.1.2.1
PASSIVES
ZUSAMMENSCHALTEN
MEHRERER
TESTSYSTEMKANAELE
.
48
5.1.2.2
ABTASTUNG
MIT
ABTAST-HALTEGLIED
.
51
5.1.2.3
ABTASTUNG
MIT
KOMPARATORBANK
.
53
5.1.2.4
SERIELL-PARALLEL-UMSETZUNG
.
55
INHALTSVERZEICHNIS
5.1.2.5
5.1.2.6
5.1.2.7
5.1.3
5.1.4
5.1.4.1
5.1.4.2
5.1.4.3
5.1.4.4
5.1.4.5
5.1.5
5.2
5.2.1
5.2.2
5.3
6
6.1
6.1.1
6.1.2
6.1.3
6.2
6.2.1
6.2.1.1
6.2.1.2
6.2.1.3
6.2.2
6.2.2.1
6.2.2.2
6.2.2.3
6.2.2.4
6.2.3
6.3
6.3.1
6.3.1.1
6.3.1.2
6.3.1.3
6.3.2
6.3.2.1
6.3.2.2
7
7.1
7.2
7.2.1
7.2.2
7.3
7.3.1
7.3.2
7.4
7.4.1
7.4.2
7.5
7.5.1
7.5.2
7.5.3
7.6
ECHTZEITVERGLEICH
MIT
EXTERN
GENERIERTEN
REFERENZSIGNALEN
.
HISTORY-REGISTER-VERTIEFUNG
DURCH
PATTEMPARALLELISIERUNG
.
VERGLEICH
DER
VERFAHREN
.
LAUFZEITKOMPENSATION
EXTERNER
KOMPONENTEN
.
GRENZEN
DER
LEISTUNGSFAEHIGKEIT
.
DETERMINISTISCHE
FEHLER
.
STATISTISCHE
FEHLER,
JITTER
.
FEHLER
DURCH
BELASTUNG
DER
PRUEFLINGSAUSGAENGE
.
ENTWURFSVERFAHREN
ZUR
ERHOEHUNG
DER
ZEITGENAUIGKEIT
.
GRENZEN
DURCH
LIMITIERTE
TESTSYSTEMRESSOURCEN
.
TEST
VON
MS-BAUSTEINEN
MIT
DIGITALTESTSYSTEMEN
.
EINBINDUNG
EXTERNER
GERAETE
.
STRUKTUR
UND
METHODIK
.
LEISTUNGSGRENZEN
.
PRUEFLINGSKONTAKTICRUNG
.
LEISTUNGSSTEIGERUNG
DURCH
NEUE
TESTSTRATEGIEN
UND
TESTVERFAHREN
ANALYSE
DER
FEHLER
VON
MS-TESTSYSTEMEN
.
MODELLIERUNG
DER
TESTSYSTEMFEHLER
.
MODELLIERUNG
DER
PRUEFLINGSFEHLER
.
SIMULATION
VON
TESTVERFAHREN
.
MS-TESTVERFAHREN
FUER
NICHTIDEALE
PRUEFUMGEBUNGEN
.
KLASSISCHE
VERFAHREN
.
FILTERUNG
DER
STIMULI
.
AUFTEILUNG
IN
TEILBEREICHE
.
RAUSCH
UND
GERAEUSCHUNTERDRUECKUNG
.
NEUE
STOERUNGSKOMPENSIERENDE
VERFAHREN
.
ZEITBEREICHSVERFAHREN
ZUR
KENNLINIENERMITTLUNG
.
HISTOGRAMMVERFAHREN
.
DFT-VERFAHREN
ZUR
UNTERDRUECKUNG
HARMONISCHER
VERZERRUNGEN
.
NICHTHARMONISCHE
VERZERRUNGEN
.
ON-LINE
TESTSYSTEMCHARAKTERISIERUNG
.
CAD-INTEGRIERTC
TESTSET-GENERIERUNG
.
TESTMUSTERGENERIERUNG
FUER
ANALOGE
PRUEFSIGNALE
.
SIMULATIONSANKOPPLUNG
.
FEHLERABSCHAETZUNG
DER
KONVERSION
.
FEHLERKORREKTURVERFAHREN
.
TESTMUSTERGENERIERUNG
FUER
DIGITALE
PRUEFSIGNALE
.
TESTMUSTERGENERIERUNG
FUER
STANDARDDIGITALSIGNALE
.
TESTMUSTERGENERIERUNG
FUER
ERWEITERUNGEN
DER
PINELEKTRONIK
.
REALISIERUNG
UND
MESSERGEBNISSE
.
UEBERBLICK
HARDWARE-STRUKTUR
.
CHARAKTENSIERUNGSSYSTEM
FUER
MS-TESTSYSTEME
.
PROGRAMMSTRUKTUR
DES
CHARAKTERISIERUNGSSYSTEMS
.
CHARAKTERISIERUNGSERGEBNISSE
.
HG-TREIBERPINELEKTRONIKEN
.
REALISIERUNG
.
ERGEBNISSE
.
HG-EMPFAENGERPINELEKTRONIKEN
.
REALISIERUNG
.
ERGEBNISSE
.
EXTERNE
GERAETE
.
SIGNALGENERATOREN
.
SIGNALERFASSUNGSSYSTEME
.
PROGRAMMINTEGRATION
DER
ZUSATZKOMPONENTEN
.
STOERUNGSKOMPENSIERENDE
TESTVERFAHREN
.
YY57
YY59
YY60
YY61
YY61
YY62
.62
.65
.68
.69
.70
.72
.72
.73
.75
YY77
.77
.78
.82
.85
.90
.90
.90
.91
.92
.95
.95
101
107
111
116
117
117
117
117
119
119
119
120
124
.124
.124
.125
126
.136
.136
.137
.142
.142
.146
.152
.152
.153
.153
.155
7.6.1
AUFBAU
DES
ANALYSEPAKETS
ADIPEXS
.
155
7.6.2
IMPLEMENTIERUNG
DER
TESTVERFAHREN
.
155
7.6.3
ERGEBNISSE
DER
TESTVERFAHREN
.
157
7.6.3.1
ZEITBEREICHSVERFAHREN
ZUR
KENNLINIENBERECHNUNG
.
157
7.6.3.2
HISTOGRAMMVERFAHREN
.
159
7.6.3.3
DFT-VERFAHREN
FUER
HARMONISCHE
VERZERRUNGEN
.
160
7.6.3.4
DFT-VERFAHREN
FUER
NICHTHARMONISCHE
VERZERRUNGEN
.
161
7.6.3.5
ROBUSTHEIT
.
162
7.7
GENERIERUNG
VON
TESTMUSTEM
AUS
ENTWURFS
UND
SIMULATIONSDATEN
.
163
7.7.1
MODUL
SIMLINK
.
163
7.7.2
MODUL
HISSIC
.
164
8
ZUSAMMENFASSUNG
UND
AUSBLICK.
.
168
ANH.
A
LITERATURVERZEICHNIS
.
170
ANH.
B
VERZEICHNIS
DER
FORMELZEICHEN
.
176
ANH.
C
ABBILDUNGEN
DER
AUFBAUTEN
.
178
ANH.
D
WEITERE
MESSERGEBNISSE
.
180
1
MESSREIHEN
DER
HISTOGRAMMTESTVERFAHREN
.
180
2
ABTASTSICHERHEIT
DER
DEMULTIPLEXER
.
187
ANH.
E
HERLEITUNGEN
.
190
1
STOERFREQUENZEN
DURCH
SKEW-FEHLER
.
190
2
AMPLITUDENVERTEILUNG
VON
SINUSSIGNALEN
.
191
3
OFFSET
UND
AMPLITUDE
VON
UEBERSTEUERTEN
SINUSSIGNALEN
.
192
4
FEHLER
BEI
HISTOGRAMMTESTVERFAHREN
.
193 |
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