X-ray microscopy: proceedings of the international symposium, Brookhaven, NY, August 31 - September 4, 1987
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 1988
Schriftenreihe:Springer series in optical sciences 56
Schlagworte:
Beschreibung:XIV, 454 S. graph. Darst.
ISBN:3540193928
0387193928

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