Untersuchung von Kristalldefekten in III - V-Halbleitern mittels elektrischer Verfahren:
Gespeichert in:
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| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1993
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| Beschreibung: | Freiberg, Techn. Univ., Habil.-Schr., 1993 |
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