Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Defects in Semiconductors (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Aedermannsdorf u.a. Trans Tech Publ.
Schriftenreihe:Materials science forum ...
Schlagworte:
ISBN:0878495517
0878495843

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