Proceedings of the ACM SIGMETRICS Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems: 1987. Banff, Alberta, Canada, May 11 - 14, 1987. - 267 S. - (... ; 15,1.: Special issue)
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: New York, NY 1987
Schriftenreihe:Performance evaluation review ...
Schlagworte:

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