X-ray microscopy: proceedings of the International Symposium 2. Brookhaven, NY, Aug. 31 - Sept. 4, 1987. - 1988. - XIV, 454 S. : Ill., graph. Darst.
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Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 1988
Schriftenreihe:Springer series in optical sciences 56
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