X-ray microscopy: proceedings of the International Symposium
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer
Schriftenreihe:Springer series in optical sciences ...
Schlagworte:
Beschreibung:Bandzählung teilw. fingiert
ISBN:3540132716
0387132716
3540193928

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