A special look at the International Test Conference: 1970 - 1989 ; the first 20 years
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Los Alamos, Calif. 1989
Schriftenreihe:Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design and test of computers 6 (1989) 4
Schlagworte:
Beschreibung:Stücktitelaufnahme e. Zeitschr.-Heftes
Beschreibung:8, 72 S.

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